申请/专利权人:三星电子株式会社
申请日:2022-09-07
公开(公告)日:2023-03-17
公开(公告)号:CN115810653A
主分类号:H01L29/06
分类号:H01L29/06;H01L27/088;H01L21/8234
优先权:["20210915 KR 10-2021-0122934"]
专利状态码:在审-公开
法律状态:2023.03.17#公开
摘要:提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:第一有源图案,在第一方向上延伸;第二有源图案,在第一方向上延伸,第一有源图案设置在第二有源图案与基底之间;栅极结构,在第二方向上延伸,第一有源图案和第二有源图案穿过栅极结构,并且第二方向与第一方向交叉;第一源漏区,与第一有源图案连接并且设置在栅极结构的侧面上;第二源漏区,与第二有源图案连接并且设置在第一源漏区上;第一绝缘结构,设置在基底与第一源漏区之间,第一绝缘结构不设置在基底与栅极结构之间;以及第二绝缘结构,设置在第一源漏区与第二源漏区之间。
主权项:1.一种半导体装置,所述半导体装置包括:第一有源图案,与基底间隔开并且在第一方向上延伸;第二有源图案,与基底间隔开并且在第一方向上延伸,第一有源图案设置在第二有源图案与基底之间;栅极结构,在基底上在第二方向上延伸,第一有源图案和第二有源图案穿过栅极结构,并且第二方向与第一方向交叉;第一源漏区,与第一有源图案连接并且设置在栅极结构的侧面上;第二源漏区,与第二有源图案连接并且设置在第一源漏区上;第一绝缘结构,设置在基底与第一源漏区之间,其中,第一绝缘结构不设置在基底与栅极结构之间;以及第二绝缘结构,设置在第一源漏区与第二源漏区之间。
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