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【发明公布】粗糙度和轮廓度两用结合协调测量装置及测量方法_山东中科普锐检测技术有限公司_202310074009.6 

申请/专利权人:山东中科普锐检测技术有限公司

申请日:2023-02-07

公开(公告)日:2023-03-17

公开(公告)号:CN115808118A

主分类号:G01B7/34

分类号:G01B7/34;G01B11/24

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.04.18#授权;2023.04.04#实质审查的生效;2023.03.17#公开

摘要:本发明公开了一种粗糙度和轮廓度两用结合协调测量装置及测量方法。测量装置包括第一测杆、第一支座、第二测杆和第二支座,第一测杆的前端安装有触针、尾端安装有电感线圈;第二测杆远离第一测杆的一端安装有光栅尺、靠近第一测杆的一端安装有传动支架,传动支架上安装有磁芯,上电感线圈和下电感线圈包围于磁芯的外侧。本发明采用双级测杆测量方式,通过一次测量可以兼顾实现长周期轮廓度上的短周期的粗糙度测量,一次测量过程中,通过分辨率高的电感传感器实现粗糙度数据获取,同时利用双级测杆对触针的位移量进行传动及加权计算,通过宽范围量程的光栅尺实现轮廓度数据获取,仪器成本低、测量精度高、数据稳定性好。

主权项:1.粗糙度和轮廓度两用结合协调测量装置,其特征在于,包括:第一测杆,所述第一测杆的前端固定安装有触针,所述第一测杆的尾端上部固定安装有上电感线圈,所述第一测杆的尾端下部固定安装有下电感线圈,所述上电感线圈和下电感线圈的旋向相反;第一支座,用于支撑所述第一测杆,所述第一测杆转动安装于所述第一支座上;第二测杆,所述第二测杆设置于所述第一测杆的尾端延伸方向上,所述第二测杆远离所述第一测杆的一端固定安装有光栅尺;所述第二测杆靠近所述第一测杆的一端固定安装有传动支架,所述传动支架上安装有磁芯,所述上电感线圈和下电感线圈包围于所述磁芯的外侧;所述传动支架的上端与所述上电感线圈之间、所述传动支架的下端与所述下电感线圈之间分别具有间隙;第二支座,用于支撑所述第二测杆,所述第二测杆转动安装于所述第二支座上,所述第二支座与所述第一支座固定连接。

全文数据:

权利要求:

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