申请/专利权人：南京芯驰半导体科技有限公司

申请日：2022-11-15

公开（公告）日：2023-03-17

公开（公告）号：CN115496021B

主分类号：G06F30/333

分类号：G06F30/333;G06F21/46;G06F21/44;G06F17/14;G06F5/06;G06F115/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.17#授权;2023.01.03#实质审查的生效;2022.12.20#公开

摘要：本申请公开了一种系统芯片的自动化测试方法、装置、芯片、设备及系统，属于芯片技术领域。所述方法包括：在系统芯片中配置测试单元；接收自动测试机台发送的测试内容；根据测试内容调用系统芯片中配置的测试单元，根据测试单元对系统芯片进行测试；根据测试后得到的测试结果生成指纹，将指纹发送给自动测试机台，自动测试机台用于将指纹与标准指纹进行比较，并根据比较结果确定系统芯片的测试结果。本申请能够根据测试内容调用自身配置的测试单元来完成测试，减少了测试过程中的数据传输，提高了测试速度，还能够反馈测试结果的指纹，以减少数据传输和提高系统芯片的安全性。

主权项：1.一种系统芯片的自动化测试方法，其特征在于，所述方法包括：在系统芯片中配置测试单元；接收自动测试机台发送的测试内容；根据所述测试内容调用所述系统芯片中配置的测试单元，根据所述测试单元对所述系统芯片进行测试；根据测试后得到的测试结果生成指纹，所述指纹是采用消息摘要算法对测试后得到的测试结果进行计算得到的消息摘要；将所述指纹发送给所述自动测试机台，所述自动测试机台用于将所述指纹与标准指纹进行比较，并根据比较结果确定所述系统芯片的测试结果，所述标准指纹是基于测试内容对应的标准测试结果生成的；其中，所述指纹的数据量小于测试后得到的测试结果的数据量，且根据所述指纹无法反推出测试后得到的测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京芯驰半导体科技有限公司 系统芯片的自动化测试方法、装置、芯片、设备及系统

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