申请/专利权人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司

申请日：2022-11-29

公开（公告）日：2023-03-17

公开（公告）号：CN115525482B

主分类号：G06F11/20

分类号：G06F11/20;G06F11/22;G06F12/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.17#授权;2023.01.13#实质审查的生效;2022.12.27#公开

摘要：本申请提出了一种微控制器芯片启动控制方法、装置、芯片及存储介质，其中方法包括：在微控制器芯片上电复位后，对闪存空闲页和主存全页进行读写，获取坏死区域信息；若坏死区域信息发生变更，则更新预设字节区域的配置信息；响应总线访问请求，根据配置信息确定对应的访问地址；基于配置信息和访问地址，控制启动微控制器芯片。本申请通过对微控制器芯片内部存储器进行上电检测后，将坏死单元转移存储到冗余区域，以使后续总线访问坏死单元地址时自动替换到冗余区域，提高坏块替换效率和信息可靠性，解决现有技术通过软件系统来管理存储器坏块存在管理和替换效率低下的问题。

主权项：1.一种微控制器芯片启动控制方法，其特征在于，包括如下步骤：在微控制器芯片上电复位后，对闪存空闲页和主存全页进行读写，获取坏死区域信息；包括：基于微控制器芯片内部的内建自测试电路，通过存储器内建自测试算法分别对所述微控制器芯片的闪存空闲页和主存全页进行读写；若检测所述闪存空闲页的读出值和写入值不一致，则生成对应的闪存坏死页信息；若检测所述主存全页的读出值和写入值不一致，则生成对应的主存坏死单元信息；获取历史闪存坏死页信息和历史主存坏死单元信息；将所述闪存坏死页信息和所述历史闪存坏死页信息进行比对，得到第一比对结果；将所述主存坏死单元信息和所述历史主存坏死单元信息进行比对，得到第二比对结果；若所述坏死区域信息发生变更，则更新预设字节区域的配置信息；包括：若基于所述第一比对结果判断有新增的闪存坏死页，则更新闪存空闲页的配置信息和闪存坏死页的配置信息；若基于所述第二比对结果判断有新增的主存坏死单元，则更新主存坏死单元的配置信息；响应总线访问请求，根据所述配置信息确定对应的访问地址；基于所述配置信息和访问地址，控制启动微控制器芯片。

全文数据：

权利要求：

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