申请/专利权人：上海蛮吉光电科技有限公司

申请日：2022-11-21

公开（公告）日：2023-03-17

公开（公告）号：CN218646863U

主分类号：G01N21/84

分类号：G01N21/84;G01N21/01;G02B21/26;G02B21/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.17#授权

摘要：本实用新型公开了一种探针显微镜测试设备，涉及显微镜测试设备技术领域。本实用新型包括操作台，固定连接于操作台上表面四角处的支杆，固定连接于支杆顶部的显微镜底座以及固定连接于显微镜底座中部的显微镜，所述操作台上表面的中部安装有调节台。本实用新型通过调节台、X轴调节机构、Y轴调节机构、测试台组件、探针支架和探针的设置，X轴调节机构配合Y轴调节机构能够实现对测试台组件平面位置的调节，使得测试物品直接进行位移，不需要操作显微镜即可完成视觉移动，同时测试台组件与测试基座之间可拆卸连接，方便拆卸清理，探针支架对探针进行导向，方便人员直接对探针进行操作，提高探针穿刺的稳定性，进而提高测试实验的准确性。

主权项：1.一种探针显微镜测试设备，其特征在于：包括操作台（1），固定连接于操作台（1）上表面四角处的支杆（2），固定连接于支杆（2）顶部的显微镜底座（3）以及固定连接于显微镜底座（3）中部的显微镜（4），所述操作台（1）上表面的中部安装有调节台（5）；还包括安装于调节台（5）上表面的X轴调节机构（6），固定连接于X轴调节机构（6）移动端的Y轴调节机构（7）以及固定连接于Y轴调节机构（7）移动端的测试基座（8），所述测试基座（8）上表面的中部卡接有测试台组件（9），所述测试基座（8）上表面的一侧固定安装有探针支架（10），所述探针支架（10）的一端固定连接有探针（11）。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海蛮吉光电科技有限公司 一种探针显微镜测试设备

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