申请/专利权人：北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司

申请日：2023-02-06

公开（公告）日：2023-03-17

公开（公告）号：CN218647637U

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G05D23/30

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.17#授权

摘要：本实用新型实施例提供一种抗磁测试装置，属于芯片测试技术领域。所述抗磁测试装置包括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。所述抗磁测试装置解决了现有抗磁测试装置有限空间中提供强磁场环境的电磁铁与温控设备协同工作的问题。

主权项：1.一种抗磁测试装置，其特征在于，包括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司 抗磁测试装置

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