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【发明公布】检查存储器子系统中的多个存储器裸片的状态_美光科技公司_202180048745.3 

申请/专利权人:美光科技公司

申请日:2021-07-09

公开(公告)日:2023-03-21

公开(公告)号:CN115836277A

主分类号:G06F3/06

分类号:G06F3/06

优先权:["20200709 US 16/946,869"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.07.28#实质审查的生效;2023.03.21#公开

摘要:存储器子系统中的处理装置确定是否检查存储器装置的一或多个存储器裸片的状态且将多单元状态命令发送到所述存储器装置,所述多单元状态命令指定与所述存储器装置的所述一或多个存储器裸片相关联的多个存储器单元。所述处理装置另外接收对所述多单元状态命令的响应,所述响应包括多位值,所述多位值包括多个位,其中所述多个位中的每个位表示用于所述多个存储器单元中的对应一者的多个参数中的一或多个参数的状态。

主权项:1.一种系统,其包括:存储器装置;以及处理装置,其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下各项的操作:确定是否检查所述存储器装置的一或多个存储器裸片的状态;将多单元状态命令发送到所述存储器装置,所述多单元状态命令指定与所述存储器装置的所述一或多个存储器裸片相关联的多个存储器单元;以及接收对所述多单元状态命令的响应,所述响应包括多位值,所述多位值包括多个位,其中所述多个位中的每个位表示用于所述多个存储器单元中的对应一者的多个参数中的一或多个参数的状态。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 美光科技公司 检查存储器子系统中的多个存储器裸片的状态

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