申请/专利权人:华邦电子股份有限公司
申请日:2022-09-14
公开(公告)日:2023-03-21
公开(公告)号:CN115831184A
主分类号:G11C11/408
分类号:G11C11/408
优先权:["20210916 US 17/476,496"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2023.04.07#实质审查的生效;2023.03.21#公开
摘要:本发明实施例提供一种存储器装置,包含:多个字线,分组成多个字线组;以及多个冗余字线,分组成M个冗余字线组;以及存储器控制电路,连接到字线组和冗余字线组且配置成通过从冗余字线组中进行选择来替换多个字线组的多个有缺陷字线组,其中多个有缺陷字线组中的每一个包括至少一个有缺陷字线,所有M个冗余字线组可用于在晶圆阶段期间修复字线组,其中M为大于2的整数,且M个冗余字线组中的N个可用于在晶圆阶段期间、封装阶段期间以及封装后阶段期间修复字线组,其中N为小于M的整数。
主权项:1.一种存储器装置,包括:多个字线,分组成多个字线组;多个冗余字线,分组成M个冗余字线组;以及存储器控制电路,连接到所述字线组和所述冗余字线组且配置成通过从所述冗余字线组中进行选择来替换所述多个字线组的多个有缺陷字线组,其中所述多个有缺陷字线组中的每一个包括至少一个有缺陷字线,所有所述M个冗余字线组可用于在晶圆阶段期间修复所述字线组,其中M为大于2的整数,以及M个冗余字线组中的N个可用于在所述晶圆阶段期间、封装阶段期间以及封装后阶段期间修复所述字线组,其中N为小于M的整数。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 华邦电子股份有限公司 能够修复有缺陷字线的存储器装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。