申请/专利权人:长沙理工大学
申请日:2023-02-21
公开(公告)日:2023-05-23
公开(公告)号:CN116155590A
主分类号:H04L9/40
分类号:H04L9/40
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2023.05.23#公开
摘要:本发明专利提出一种高安全性低开销的可测试性设计结构;此安全扫描设计结构是在常规扫描链的基础上引入了多重保护逻辑,其中包括测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位;测试验证逻辑用于限制非法入侵者在测试模式下输入测试激励;扫描混淆作用于扫描中,由密钥输入来控制是否混淆扫描数据;输出限制逻辑可以灵活的控制扫描输出的可观测性。循环移位用于扫描链中的循环移位,以此来增加非法测试的数据混淆;本发明通过增加较少的硬件逻辑,在保证电路可测试性和不影响功能模式的前提下,能够抵御所有潜在的基于扫描的侧信道攻击。
主权项:1.一种高安全性低开销的可测试性设计结构,其特征在于在常规扫描设计的基础上加入了测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 长沙理工大学 一种高安全性低开销的可测试性设计结构
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