申请/专利权人：长沙理工大学

申请日：2023-02-21

公开（公告）日：2023-05-23

公开（公告）号：CN116155590A

主分类号：H04L9/40

分类号：H04L9/40

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2023.05.23#公开

摘要：本发明专利提出一种高安全性低开销的可测试性设计结构；此安全扫描设计结构是在常规扫描链的基础上引入了多重保护逻辑，其中包括测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位；测试验证逻辑用于限制非法入侵者在测试模式下输入测试激励；扫描混淆作用于扫描中，由密钥输入来控制是否混淆扫描数据；输出限制逻辑可以灵活的控制扫描输出的可观测性。循环移位用于扫描链中的循环移位，以此来增加非法测试的数据混淆；本发明通过增加较少的硬件逻辑，在保证电路可测试性和不影响功能模式的前提下，能够抵御所有潜在的基于扫描的侧信道攻击。

主权项：1.一种高安全性低开销的可测试性设计结构，其特征在于在常规扫描设计的基础上加入了测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长沙理工大学 一种高安全性低开销的可测试性设计结构

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD