申请/专利权人：深圳思谋信息科技有限公司

申请日：2022-12-13

公开（公告）日：2023-05-23

公开（公告）号：CN116152166A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/41

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.09#实质审查的生效;2023.05.23#公开

摘要：本申请提供一种基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置。方法包括：获取待测电路板图像和样本电路板图像；提取待测电路板图像的第一特征信息和样本电路板图像的第二特征信息；基于第一特征信息与第二特征信息之间的相关性特征，对待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，相关性特征用于表征待测电路板图像与样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。采用本申请，有助于提高PCB缺陷检测的准确率。

主权项：1.一种基于特征相关性的缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测电路板图像和样本电路板图像；提取所述待测电路板图像的第一特征信息和所述样本电路板图像的第二特征信息；基于所述第一特征信息与所述第二特征信息之间的相关性特征，对所述待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，所述相关性特征用于表征所述待测电路板图像与所述样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳思谋信息科技有限公司 基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置

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