申请/专利权人：迪亚蒙泰克股份有限公司

申请日：2021-05-26

公开（公告）日：2023-05-23

公开（公告）号：CN116157668A

主分类号：G01N21/17

分类号：G01N21/17

优先权：["20200527 EP PCT/EP2020/064730","20200731 EP PCT/EP2020/071711"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.09#实质审查的生效;2023.05.23#公开

摘要：用于分析包含至少一种分析物的材料12的装置10，所述装置包括具有适合于与所述材料12热接触或压力传递接触的接触表面14的测量体16、配置用于将激发辐射18辐照到材料12中以在其中被吸收的激发辐射源26，以及用于检测测量体对在吸收所述激发辐射18后从所述材料12接收的热或压力波的物理响应，以及用于生成指示激发辐射的吸收程度的响应信号的检测设备，其中设置有突起80，所述突起具有朝向所述材料12且在材料与接触表面接触时与材料接触的前表面82，并且其中所述激发辐射18通过所述突起80的所述前表面82被辐照到材料12中，其中所述突起80形成于所述测量体16的所述接触表面14上，或者其中所述测量体16形成所述突起或所述突起的一部分，其中所述测量体16的所述接触表面14形成所述突起的所述前表面的至少一部分，并且相对于周围结构升高。

主权项：1.用于分析包含至少一种分析物的材料12的装置10，所述装置包括：-测量体16，其具有适合于与所述材料12热接触或压力传递接触的接触表面14，所述热接触或压力传递接触允许由所述材料中吸收的激发辐射18产生的热或压力波传递至所述测量体，-激发辐射源26，其被配置用于将激发辐射18辐照到所述材料12中以在其中被吸收，以及-检测设备，用于检测所述测量体或其中包括的组件对在吸收所述激发辐射18后从所述材料12接收的热或压力波的物理响应，以及用于基于所检测到的物理响应生成响应信号，所述响应信号指示激发辐射的吸收程度，其中设置有突起80，所述突起具有朝向所述材料12且在所述材料与所述接触表面接触时与所述材料接触的前表面82，以及所述激发辐射18通过所述突起80的所述前表面82被辐照到所述材料12中，其中所述突起80形成于所述测量体16的所述接触表面14上，或者其中所述测量体16形成所述突起或所述突起的一部分，其中所述测量体16的所述接触表面14形成所述突起的所述前表面的至少一部分，并且相对于周围结构升高。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 迪亚蒙泰克股份有限公司 具有改善的进入包括所述分析物的材料中的激发辐射耦合的分析物测量的装置和方法

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