申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2023-04-21

公开（公告）日：2023-05-23

公开（公告）号：CN116153385A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G01R21/133;G01R21/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.09.19#授权;2023.06.09#实质审查的生效;2023.05.23#公开

摘要：本公开是关于一种功耗测量方法，涉及半导体生产与制造技术领域，可以应用于监测半导体芯片的功耗数据的场景。该方法包括：获取电源管理集成电路连接至待监测芯片的至少一供电线路，确定串联于每个供电线路的串联采样电阻的串联电阻值；确定作用于每个串联采样电阻的电阻电压值；基于电阻电压值与串联电阻值，确定每个供电线路对应的线路电流值；根据所有供电线路的电阻电压值与线路电流值，确定待监测芯片的芯片功耗数据。本公开无需使用外部电流仪器即可对连接至待监测芯片的供电线路进行电流监测，并根据监测到的线路电流值与电阻电压值计算得到芯片功耗数据。

主权项：1.一种功耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取电源管理集成电路连接至待监测芯片的至少一供电线路，确定串联于每个所述供电线路的串联采样电阻的串联电阻值；确定作用于每个所述串联采样电阻的电阻电压值，所述电阻电压值基于所述电源管理集成电路在所述供电线路的线路供电电压值与检测点电压值确定；基于所述电阻电压值与所述串联电阻值，确定每个所述供电线路对应的线路电流值；根据所有所述供电线路的所述电阻电压值与所述线路电流值，确定所述待监测芯片的芯片功耗数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 功耗测量方法

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