申请/专利权人：上海瀚宇光纤通信技术有限公司

申请日：2022-08-18

公开（公告）日：2023-05-23

公开（公告）号：CN115327698B

主分类号：G02B6/02

分类号：G02B6/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.05.23#授权;2022.11.29#实质审查的生效;2022.11.11#公开

摘要：本发明公开了一种光纤光栅的刻写方法、装置、计算机设备和介质，光纤光栅的刻写方法，包括：在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅；获取参考光纤光栅的第一反射光谱，根据第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定目标光纤光栅的第二反射光谱；监测光纤的反射光谱，在光纤上刻写目标光纤光栅，直至第一反射光谱的峰值和第二反射光谱的峰值之差达到预设值；去除参考光纤光栅，获取目标光纤光栅。本发明首先在光纤上刻写参考光纤光栅，再基于参考光纤光栅的第一参考光谱确定目标光纤光栅的第二反射光谱，在刻写目标光纤光栅同时，基于光谱之间峰值之差达到预设值进行监测。保证对目标光纤光栅监测的同时，确保刻写准确预设参数下的目标光纤光栅。

主权项：1.一种光纤光栅的刻写方法，其特征在于，包括：在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅；获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱，根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱；监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到预设值；去除所述参考光纤光栅，获取所述目标光纤光栅；其中，获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱，根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱，包括：将环形器的第一端接宽带光源，所述环形器的第二端接所述光纤，所述环形器的第三端接光谱仪；控制所述光谱仪获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱；根据所述第一反射光谱和所述目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱；并且，所述参考光纤光栅的反射率为第一反射率，所述目标光纤光栅的反射率为第二反射率；其中，根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱，包括：根据计算公式计算并获取所述第二反射光谱：其中，所述计算公式：H1-H2=10lg（P1P2）其中，H1为所述第一反射光谱的峰值，H2为所述第二反射光谱的峰值，P1为所述第一反射率和P2为所述第二反射率；根据所述峰值的差值确定所述第二反射光谱。

全文数据：

权利要求：

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