申请/专利权人：上海维安半导体有限公司

申请日：2023-03-07

公开（公告）日：2023-05-26

公开（公告）号：CN116165470A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01R31/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.13#实质审查的生效;2023.05.26#公开

摘要：本发明提供一种电子元器件的浪涌电流测试电路，包括：主降压待测单元，待测元器件通过第一限流电阻、隔离变压器连接供电端；交流采样单元，用于对高压交流电进行分压采样；正弦波整形单元，用于对采样信号进行正弦波整形处理并输出过零方波信号；按键消抖单元，连接按键单元，包括第一定时模块和第二定时模块；延时单元，分别连接正弦波整形单元和按键消抖单元；短脉冲产生单元，连接延时单元；驱动测试单元，连接短脉冲产生单元，驱动测试单元包括驱动器和受控开关，受控开关连接待测元器件。有益效果：通过逻辑门电路实现纯硬件逻辑触发功能，无需外购复杂的测试设备，仅用示波器，交流电源等基础设施即可进行器件特性验证。

主权项：1.一种电子元器件的浪涌电流测试电路，其特征在于，包括：一主降压待测单元，包括隔离变压器，所述隔离变压器的原边连接一供电端，所述隔离变压器的副边通过一第一限流电阻连接一待测元器件，所述隔离变压器的原边和副边分别并联一旁路负载；一交流采样单元，连接于所述供电端和接地端之间，用于在所述供电端上电后对高压交流电进行分压采样，得到一采样信号；一正弦波整形单元，连接所述交流采样单元，用于对所述采样信号进行正弦波整形处理，并输出一过零方波信号；一按键单元，用于根据一外部控制下输出一按键信号；一按键消抖单元，包括第一定时模块，连接所述按键单元；第二定时模块，连接所述第一定时模块，用于对所述按键信号进行延迟消抖处理，得到一使能信号；一延时单元，分别连接所述正弦波整形单元和所述按键消抖单元，用于在所述使能信号的作用下使能所述延时单元，所述延时单元对所述过零方波信号进行延时处理，并开始进行周期计数；一短脉冲产生单元，连接所述延时单元，用于根据延迟后的所述过零方波信号处理得到一短脉冲触发信号；一驱动测试单元，连接所述短脉冲产生单元，所述驱动测试单元包括一驱动器和一受控开关，所述受控开关连接所述待测元器件，所述驱动器根据所述短脉冲触发信号输出一驱动信号，以驱动所述受控开关导通，所述待测元器件承受周期电流，以完成所述待测元器件的浪涌测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海维安半导体有限公司 一种电子元器件的浪涌电流测试电路

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