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【发明公布】膜材的缺陷检测系统、检测方法、检测装置和存储介质_凌云光技术股份有限公司_202211700000.3 

申请/专利权人:凌云光技术股份有限公司

申请日:2022-12-28

公开(公告)日:2023-05-26

公开(公告)号:CN116165208A

主分类号:G01N21/892

分类号:G01N21/892;G01N21/89;G01N21/88

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.06.13#实质审查的生效;2023.05.26#公开

摘要:本申请公开了一种膜材的缺陷检测系统、检测方法、检测装置和存储介质,属于膜材缺陷检测技术领域。膜材的缺陷检测系统包括:光源用于朝向待检测的膜材,光源包括沿膜材的宽度方向分布的多个光源模组;拍照设备与光源安装于膜材的同侧,用于采集反射光;控制器与光源及拍照设备电连接,用于同步控制多个光源模组的状态及拍照设备拍照,且用于对接收的图像组进行处理,得到缺陷检测结果。通过上述光源、拍照设备和控制器的设置,在检测膜材自身的表面缺陷的同时,还可以检测膜材在运输过程中沿运动方向细微的划伤,且对相机的数量要求和精度要求较低,从而大幅度节约了检测成本。

主权项:1.一种膜材的缺陷检测系统,其特征在于,包括:光源,所述光源用于朝向待检测的膜材,所述光源包括沿所述膜材的宽度方向分布的多个光源模组;拍照设备,所述拍照设备与所述光源安装于所述膜材的同侧,用于采集反射光;控制器,所述控制器与所述光源及所述拍照设备电连接,用于同步控制所述多个光源模组的状态及所述拍照设备拍照,且用于对接收的图像组进行处理,得到缺陷检测结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 凌云光技术股份有限公司 膜材的缺陷检测系统、检测方法、检测装置和存储介质

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