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【发明授权】一种端到端的绝对相位解析方法_西安邮电大学_202111644310.3 

申请/专利权人:西安邮电大学

申请日:2021-12-29

公开(公告)日:2023-05-26

公开(公告)号:CN114543704B

主分类号:G01B11/25

分类号:G01B11/25;G06T7/60

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.05.26#授权;2022.06.14#实质审查的生效;2022.05.27#公开

摘要:本发明提出了一种端到端的绝对相位解析方法,包括两帧特殊相移量编码的正弦条纹数学模型,以及主值相位和条纹级数的同步计算公式。实际应用中,采用两帧特殊相移量编码的正弦条纹数学模型生成两帧条纹模板,经过数字投影仪投射到被测物体表面,同时用工业相机捕获经被测物体调制变形的条纹图像,进而经过傅里叶变换、频谱中心移位、频域滤波等解析过程,同步计算主值相位和条纹级数,最终解析出绝对相位。本发明完全摒弃了绝对相位的级联型解析流程,通过特殊相移量编码,实现了主值相位和条纹级数的同步计算,从而达到了绝对相位的端到端解析,填补了当前基于物理模型的绝对相位解析理论,使其更完善与科学。

主权项:1.一种端到端的绝对相位解析方法,其特征在于:采用以下步骤:步骤1:设置两帧特殊相移量编码的条纹模板参数:条纹模板的平均灰度A和调制灰度B,条纹方向参数str,条纹周期数period,条纹波长λ,条纹模板尺寸Width和Height,以及特殊编码的相移量模板αgu,v: 式中:str为条纹方向参数:若条纹垂直,则str=u=1,2,…,Width;若条纹水平,则str=v=1,2,…,Height;max表示取最大值;round表示四舍五入取整;步骤2:根据步骤1设置的参数仿真两帧特殊相移量编码的正弦条纹模板;步骤3:将步骤2中设计的两帧特殊相移量编码的正弦条纹模板投影到被测物体表面,并同步捕获经物体表面调制变形的条纹图像,其数学模型为: 式中:c表示摄像机;x,y第x列第y行的图像像素坐标,x=1,2,…,Widthc,y=1,2,…,Heightc;rx,y像素坐标x,y处物体表面的反光常数;ax,y像素坐标x,y处的条纹背景强度;bx,y像素坐标x,y处的调制度;像素坐标x,y处条纹主值相位值,为待计算值;αcx,y像素坐标x,y处实际相移量值,为待计算值;步骤4:从步骤3捕获的两帧变形条纹图像和中同步提取被测物体的主值相位图像和条纹级数图像Kx,y;步骤5:根据步骤4中同步计算的被测物体主值相位图像和条纹级数图像Kx,y,采用经典的相位展开公式解析出绝对相位图像。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安邮电大学 一种端到端的绝对相位解析方法

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