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【发明授权】一种内核性能理论值计算方法、装置及存储介质_海光信息技术股份有限公司_202210643762.8 

申请/专利权人:海光信息技术股份有限公司

申请日:2022-06-07

公开(公告)日:2023-05-26

公开(公告)号:CN115033434B

主分类号:G06F11/22

分类号:G06F11/22;G06F11/263

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.05.26#授权;2022.09.30#实质审查的生效;2022.09.09#公开

摘要:本发明实施例公开一种内核性能理论值计算方法、装置及存储介质,其中,所述方法包括:获取测试用例集,其中测试用例集用于内核性能理论值计算时的不同应用场景模拟;解析测试用例集中各测试用例的内容得到各组元数据,其中不同组元数据为在不同测试用例模拟的应用场景下对内核执行的硬件操作及相关数据;针对每组元数据:根据内核配置要求和本组元数据,对内核性能进行理论性能计算。本发明适用于处理器芯片验证过程中内核性能理论分析的场景,能够实现理论性能计算的准确性、高效性和灵活性。

主权项:1.一种内核性能理论值计算方法,其特征在于,所述方法包括:获取测试用例集,其中测试用例集用于内核性能理论值计算时的不同应用场景模拟;解析测试用例集中各测试用例的内容得到各组元数据,其中不同组元数据为在不同测试用例模拟的应用场景下对内核执行的硬件操作及相关数据;针对每组元数据:根据内核配置要求和本组元数据,对内核性能进行理论性能计算,得到本组元数据输入下的内核性能理论值计算结果,以完成性能验证过程中理论值的计算;其中,所述内核是中央处理器或者通用图形处理器中的核心芯片,理论值计算结果包括理论值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 海光信息技术股份有限公司 一种内核性能理论值计算方法、装置及存储介质

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