申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十四研究所

申请日：2023-03-06

公开（公告）日：2023-05-30

公开（公告）号：CN116192717A

主分类号：H04L43/50

分类号：H04L43/50;H04L43/0817

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.16#实质审查的生效;2023.05.30#公开

摘要：本发明为一种以太网卡芯片的功能测试系统，属于芯片功能测试领域。本系统包括FPGA、待测以太网卡芯片、上位机；待测以太网卡芯片和上位机均与FPGA连接，待测以太网卡芯片通过RJ‑45接口与上位机相连；上位机向待测以太网卡芯片发送数据；FPGA从待测以太网卡芯片中读取数据，并将数据回传给上位机；上位机判断接收的数据与发送的数据是否一致，进而判断待测以太网卡芯片的功能是否正常。该系统整体硬件结构简单，易于实现，使用通用的上位机PC即可操作测试，能够在同一块电路板上快速地实现对以太网卡芯片的功能测试。

主权项：1.一种以太网卡芯片的功能测试系统，其特征在于，包括FPGA、待测以太网卡芯片、上位机；待测以太网卡芯片和上位机均与FPGA连接，待测以太网卡芯片通过RJ-45接口与上位机相连；上位机向待测以太网卡芯片发送数据；FPGA从待测以太网卡芯片中读取数据，并通过待测以太网卡芯片将数据回传给上位机；上位机判断接收的数据与发送的数据是否一致，进而判断待测以太网卡芯片的功能是否正常。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种以太网卡芯片的功能测试系统

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