申请/专利权人：苏州索莱能智能科技有限公司

申请日：2023-03-30

公开（公告）日：2023-05-30

公开（公告）号：CN116184176A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.16#实质审查的生效;2023.05.30#公开

摘要：本发明公开了射频芯片测试设备，包括工作台、空TARY盘料仓、芯片上料仓、NG存储仓、OK存储仓、设置于OK存储仓一侧的精定位机构、对称设置于工作台上方左右两侧的Y轴移动模组、设置于两侧的Y轴移动模组上的X轴移动模组、设置于X轴移动模组上的TARY盘搬运机构、设置于X轴移动模组上的双头芯片拍照取料组件、设置于工作台上方且位于OK存储仓一侧的测试治具、设置于测试治具一侧的芯片压紧机构；有益效果是，在满足射频芯片高频测试稳定的情况下能够实现自动上下料将测试OK和NG产品进行独立存储，同时满足多品种射频芯片测试，设备无气源所有动力及吸取全部使用电力减少气体对电磁波的干扰。

主权项：1.射频芯片测试设备，其特征在于，包括工作台1、设置于工作台1上方的空TARY盘料仓2、设置于工作台1上且位于空TARY盘料仓2一侧的芯片上料仓3、设置于工作台1上且位于芯片上料仓3一侧的NG存储仓4、设置于工作台1上且位于NG存储仓4一侧的OK存储仓5、设置于OK存储仓5一侧的精定位机构6、对称设置于工作台1上方左右两侧的Y轴移动模组7、设置于两侧的Y轴移动模组7上的X轴移动模组8、设置于X轴移动模组8上的TARY盘搬运机构9、设置于X轴移动模组8上的双头芯片拍照取料组件10、设置于工作台1上方且位于精定位机构6一侧的测试治具11、设置于测试治具11一侧的芯片压紧机构12。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州索莱能智能科技有限公司 射频芯片测试设备

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