申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所

申请日：2023-06-15

公开（公告）日：2023-09-22

公开（公告）号：CN116793801A

主分类号：G01N1/36

分类号：G01N1/36;G01N1/28;G01N24/08

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2023.09.22#公开

摘要：本发明涉及薄膜材料表征领域，主要涉及一种用于核磁共振检测的薄膜态材料脱膜方法。本发明提供的具体方法为：使用氯化钠晶体作为待测薄膜的基底，将待测薄膜材料沉积在该基底上，形成薄膜样品；将所述薄膜样品放入盛有纯净水的玻璃培养皿中，且确保纯净水能够浸润所述薄膜样品的镀膜面，使薄膜脱落的同时，少量氯化钠晶体溶入纯净水中；待所述玻璃培养皿中的水分蒸发后，取出脱膜后的样品，放入玛瑙研钵中研磨制成粉末。本发明能够解决利用核磁共振仪在表征薄膜态材料时难以取样的问题，以及薄膜态材料在取样过程中损耗大、测量结果不清晰的问题。本发明具有操作简单、成本低和适用范围广等特点。

主权项：1.一种用于核磁共振检测的薄膜态材料脱膜方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1.以氯化钠晶体为基底，将待测薄膜材料沉积在该基底上，形成薄膜样品；步骤2.将所述薄膜样品放入盛有纯净水的玻璃培养皿中，且确保纯净水能够浸润所述薄膜样品的镀膜面，使薄膜脱落的同时，少量氯化钠晶体溶入纯净水中；步骤3.待所述玻璃培养皿中的水分蒸发后，取出脱膜后的样品，放入玛瑙研钵中研磨制成粉末。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种用于核磁共振检测的薄膜态材料脱膜方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD