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龙图腾网恭喜西安理工大学申请的专利一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889546B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510380075.5，技术领域涉及：G16C60/00；该发明授权一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统是由王倩;刘睿;周坤;任嘉文;秦司晨;查俊伟;琚泽立设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统在说明书摘要公布了：本申请是关于一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统，其中，所述方法包括：建立深空环境，得到深空环境下待测聚酰亚胺电荷积聚特性；根据深空环境下待测聚酰亚胺材料的陷阱能态分布特性，构建深空环境下待测聚酰亚胺材料的电荷行为精细描述模型；根据深空环境下待测聚酰亚胺材料的静电放电特性，构建待测聚酰亚胺材料电荷积聚特性与静电放电特性的关联关系；根据深空环境下待测聚酰亚胺材料微观分子结构、电荷行为精细描述模型以及电荷积聚特性与静电放电特性的关联关系，得到聚酰亚胺绝缘性能劣化趋势。本申请提供一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统，能够得到在长期多应力协同作用下聚酰亚胺绝缘性能的劣化趋势。

本发明授权一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种多应力协同作用下聚酰亚胺劣化分析方法，其特征在于，包括：建立仿真深空环境，将待测聚酰亚胺材料置于仿真深空环境中，从而得到仿真深空环境下待测聚酰亚胺电荷积聚特性，所述电荷积聚特性包括表面电荷特性和空间电荷特性；根据仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料的陷阱能态分布特性，获取电子入射轨迹与电子能量沉积分布，从而得到电子沉积深度分布，通过电子沉积深度分布与电荷积聚特性，构建仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料的电荷行为精细描述模型，所述精细描述模型包括：电子浓度变化率方程、电荷电流密度方程、空穴浓度变化率方程、电子捕获率方程与电子释放率方程；具体步骤为：采用高场强宽温谱热刺激电流与空间电荷联合实验得到仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料的电荷性质与陷阱能态；通过蒙特卡洛方法获取电子入射轨迹与电子能量沉积分布，得到待测聚酰亚胺电子沉积深度分布；根据待测聚酰亚胺电子沉积深度分布与电荷积聚特性，构建仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料的电荷行为精细描述模型；根据仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料的电荷积聚特性得到静电放电特性，并通过待测聚酰亚胺材料的电荷行为精细描述模型得到介观参量，通过所述电荷积聚特性、所述静电放电特性与所述介观参量构建待测聚酰亚胺材料电荷积聚特性与静电放电特性的关联关系；根据仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料微观分子结构、所述电荷行为精细描述模型以及所述电荷积聚特性与静电放电特性的关联关系，得到聚酰亚胺绝缘性能劣化趋势；具体步骤为：获取仿真深空环境下待测聚酰亚胺材料微观分子结构；所述待测聚酰亚胺材料微观分子结构包括近程结构信息与远程结构信息；根据待测聚酰亚胺材料微观分子结构、待测聚酰亚胺材料电荷积聚与放电特性之间的关联关系，得到聚酰亚胺绝缘性能劣化趋势；所述聚酰亚胺绝缘性能劣化趋势为： ；其中，为初始劣化程度，为比例常数，为权重系数，为电荷积聚密度，为电荷积聚密度初始值，为陷阱密度，为陷阱密度初始值，为陷阱能级，为陷阱能级初始值，为电荷迁移率，为电荷迁移率初始值，为活化能，为活化能初始值，为电导率，为电导率初始值，为相对介电常数，为相对介电常数初始值，为击穿场强，为放电能量，为放电能量初始值，为沿面闪络电压。

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