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龙图腾网恭喜华润微集成电路(无锡)有限公司申请的专利实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114067899B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010757710.4，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法是由李亚菲;华纯;华晶;刘欣洁设计研发完成，并于2020-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试系统，包括测试控制电路模块，接收外部的测试使能信号bist_en，用于控制测试电路的运转；测试向量选择电路模块用于根据测试向量选择信号pattern_sel选择一个或多个测试向量进行测试；测试向量产生电路模块用于产生测试向量；响应分析电路模块用于比较存储器中读取的数值与测试向量。本发明还涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试方法。采用了本发明的实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法，对于其它存储器及算法同样适用，根据特定的存储器故障选择一个或多个不同的测试向量，不同的存储器故障可以选择不同的测试向量，适用于不同的存储器及算法。

本发明授权实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法在权利要求书中公布了：1.一种实现可快速测试的存储器内建自测试系统，其特征在于，所述的系统包括：测试控制电路模块，接收外部的测试使能信号bist_en，输出端分别与测试向量选择电路模块和待测电路相连接，用于控制测试电路的运转；测试向量选择电路模块，接收测试向量选择信号pattern_sel，接收端与测试控制电路模块的输出端相连接，用于根据测试向量选择信号pattern_sel选择一个或多个测试向量进行测试；测试向量产生电路模块，接收端与测试向量选择电路模块的输出端相连接，输出端与待测电路相连接，用于产生测试向量；响应分析电路模块，输入端与测试向量选择电路模块和待测电路相连接，用于比较存储器中读取的数值与测试向量，并输出测试完成信号bist_done和测试成功信号bist_ok；所述的测试向量选择电路模块包括：测试向量选择信号暂存单元，与所述的测试控制电路模块相连接，接收用户配置的测试向量选择信号pattern_sel和测试控制电路模块输出的一次算法完成信号fsm_complete，输出暂存中间值psel_temp；测试向量编码信号生成单元，接收端与所述的测试向量选择信号暂存单元相连接，输出端与所述的测试向量产生电路模块相连接，接收用户配置的测试向量选择信号pattern_sel；输出测试向量编码信号pattern_id，用于产生测试向量信号bist_pattern；所述的测试向量选择电路模块还包括：或非运算单元，接收端与所述的测试向量选择信号暂存单元相连接，输出端与所述的响应分析电路模块相连接，输出全部向量测试完成信号pattern_complete，所述的向量测试完成信号pattern_complete用于产生测试完成信号bist_done。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华润微集成电路(无锡)有限公司，其通讯地址为：214135 江苏省无锡市无锡太湖国际科技园菱湖大道180号-6；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。