北京天数智芯半导体科技有限公司袁鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉北京天数智芯半导体科技有限公司申请的专利一种点云质量评估方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118644440B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410629073.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种点云质量评估方法、装置及电子设备是由袁鑫;廖斌设计研发完成，并于2024-05-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种点云质量评估方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种点云质量评估方法、装置及电子设备，该方法包括：从目标对象的多视角图片中提取出多个特征点；计算多个特征点与目标对象的待评估点云之间的误差值；根据误差值对待评估点云进行质量评估，获得评估结果。在上述方案的实现过程中，通过从目标对象的多视角图片中提取出的多个特征点与目标对象的待评估点云之间的误差值，对待评估点云进行质量评估，从而在不需要目标对象的真实点云数据的情况下，也能够获得质量评估结果，有效地改善了目标对象的真实点云数据在很难获取到的情况下导致无法评估点云质量的情况，提高了点云质量评估方法的适应性。
本发明授权一种点云质量评估方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种点云质量评估方法，其特征在于，包括： 从目标对象的多视角图片中提取出多个特征点； 计算所述多个特征点与所述目标对象的待评估点云之间的坐标误差值； 根据所述坐标误差值对所述待评估点云进行质量评估，获得评估结果； 其中，所述坐标误差值包括：将所述待评估点云映射至所述多视角图片的映射点坐标与所述特征点在所述多视角图片的像素坐标之间的误差值，和或，将所述特征点转换为三维坐标与所述待评估点云的世界坐标之间的误差值。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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