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龙图腾网恭喜成都成电光信科技股份有限公司申请的专利减少OTDR测试时间的方法、装置及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120008880B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510496085.5，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权减少OTDR测试时间的方法、装置及系统是由解军;阳树中;王品嘉设计研发完成，并于2025-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本减少OTDR测试时间的方法、装置及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种减少OTDR测试时间的方法、装置及系统，属于光时域反射仪领域，包括：在基于单光子探测的光时域反射仪OTDR增设光功率控制模块，利用光功率控制模块改变激光器输出光脉冲功率；在单光子探测器上加入门控脉冲，门控时间同步于饱和光脉冲，门控方式采用关闭探测器光子响应；然后以分步光衰减及同步门控进行多次分步测试获得多条分步测试曲线，最后将多条分步曲线合成，得到最终测试曲线。本发明在保证相同测试数据精度的条件下，可以显著减少单纤测试时间，极大提高设备工作效率。

本发明授权减少OTDR测试时间的方法、装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种减少OTDR测试时间的方法，其特征在于，包括以下步骤： 在基于单光子探测的光时域反射仪OTDR增设光功率控制模块，利用光功率控制模块改变激光器输出光脉冲功率；在单光子探测器上加入门控脉冲，门控时间同步于饱和光脉冲，门控方式采用关闭探测器光子响应； 然后以分步光衰减及同步门控进行多次分步测试获得多条分步测试曲线，最后将多条分步曲线合成，得到最终测试曲线； 设注入单光子探测器物理上的光强度分步曲线，光纤线路上多个事件点形成多个大小不同的反射脉冲P1、P2、P3、P4、P5和P6；则所述以分步光衰减及同步门控进行多次分步测试获得多条分步测试曲线，具体包括如下子步骤： S1，获取分步测试曲线①：光功率控制模块控制激光器光脉冲输出功率降低设定值一，以对应光功率值一注入单光子探测器，使所有光反射脉冲不会出现饱和现象，获得光子统计数据曲线①，以此找出强反射脉冲并保留数据； S2，获取分步测试曲线②：光功率控制模块控制激光器光脉冲输出功率降低设定值二，以对应光功率值二注入单光子探测器，使反射脉冲P2和P5峰值功率过高后引起饱和现象，通过门控脉冲同步关闭光子响应，以避免饱和脉冲影响测试数据，获得光子统计数据曲线②，以此找出中等强度反射脉冲并保留数据； S3，获取分步测试曲线③：光功率控制模块控制激光器光脉冲输出功率降低设定值三，以对应光功率值三注入单光子探测器，使反射峰P2、P3、P5和P6峰值功率过高后引起饱和现象，通过门控脉冲同步关闭光子响应，以避免饱和脉冲影响测试数据；在此功率条件下，获得光子统计数据曲线③。

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