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龙图腾网恭喜垣矽技术(青岛)有限公司申请的专利一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916057B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510392055.X，技术领域涉及：G01P21/00；该发明授权一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法是由刘本勇;杨军;张彦生;耿彪设计研发完成，并于2025-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法，属于测量电变量技术领域。本发明先按过零点划分驱动芯片各模块输出信号，得到正、负半波集合，进而提取波形对称值与波形对称稳定值。将正、负半波集合转换至频域并划分为重要频率和杂波频率，生成4种频率集合。通过计算相邻模块在4种频率集合上的差距，得出相邻模块正半波频率变异值和负半波频率变异值，同时依据相邻模块在波形对称值和波形对称稳定值上的差值，得到相邻模块波形对称差值和波形稳定差值。最终将各相邻模块的这些特征值作为样本输入卷积神经网络，从而精准得到驱动芯片故障值，显著提升了故障检测精度。

本发明授权一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法，其特征在于，包括： 按过零点将驱动芯片中各模块的输出信号进行划分，得到正半波集合和负半波集合； 对每个模块的正半波集合和负半波集合，提取波形对称值和波形对称稳定值； 将正半波集合和负半波集合转换到频域，将频域信息划分为重要频率和杂波频率，得到4种频率集合，其中，4种频率集合包括：正半波重要频率集合、正半波杂波频率集合、负半波重要频率集合和负半波杂波频率集合； 根据驱动芯片中相邻模块在4种频率集合上的差距，得到相邻模块正半波频率变异值和负半波频率变异值； 根据驱动芯片中相邻模块在波形对称值和波形对称稳定值上的差值，得到相邻模块波形对称差值和波形稳定差值； 将各相邻模块的正半波频率变异值、负半波频率变异值、波形对称差值和波形稳定差值作为样本输入卷积神经网络，得到驱动芯片故障值； 提取波形对称值的过程为： 对正半波集合中每个正半波，计算正半波面积； 对负半波集合中每个负半波，计算负半波面积； 将正半波面积和正半波的峰值作为元素，构成正半波特征向量； 将负半波面积和负半波的峰值的绝对值作为元素，构成负半波特征向量； 计算同一个周期的正半波特征向量与负半波特征向量的相似度； 将各个周期的相似度取均值，得到波形对称值； 计算波形对称稳定值的公式为：，其中，γ为波形对称稳定值，σ为各个周期的相似度的标准差。

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