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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119692117B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411829483.6，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法是由叶雪荣;孙祺森;魏俊平;林轩羽;周振宁;陈岑;陈昊设计研发完成，并于2024-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法，所述方法包括如下步骤：步骤S1、考虑电子设备内元器件最高使用温度，结合电子设备热仿真模型设计试验温度；步骤S2、考虑测量误差，确定试验最短时长；步骤S3、结合性能退化预计结果，考虑退化分散性设计试验样本量；步骤S4、开展热应力加速退化试验，获得电子设备性能退化数据；步骤S5、计算电子设备性能退化预计误差区间。能够在样本量有限的条件下有效评估性能退化预计准确度，降低试验成本，提高评估严谨性。

本发明授权小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法在权利要求书中公布了：1.一种小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法，其特征在于所述方法包括如下步骤： 步骤S1、考虑电子设备内元器件最高使用温度，结合电子设备热仿真模型设计试验温度； 步骤S2、考虑测量误差，确定试验最短时长； 步骤S3、结合性能退化预计结果，考虑退化分散性设计试验样本数，具体步骤如下： 步骤S31、设置试验时长t； 步骤S32、结合电子设备性能退化预计结果，确定t时刻所关注参数的预计均值、方差、分布类型； 步骤S33、将步骤S32的均值记为D，基于步骤S32结果随机生成n个样本m次，其中2≤n20，m≥10000； 步骤S34、对步骤S33每次随机生成的样本，有放回的抽取n个样本计算均值，并重复抽取k次，其中k≥10000，得到k个均值，得到其分布；设置显著性水平α，按下式计算均值区间： ； 其中，θ为所关注的电子设备参数，表示对θ的估计，表示第j个分位数，表示第k个分位数，分位数j和k按下式计算： ； ； 其中，Φ是标准正态累积分布函数，α是显著性水平，z α2是标准正态分布的第100×α2分位数，为偏置校正和加速Bootstrap法的偏差校正系数，为偏置校正和加速Bootstrap法的加速系数； 步骤S35、记录m次中，预计均值D在步骤S34均值区间中的次数m c ，计算覆盖率： ； 步骤S36、选取覆盖率高的样本数作为试验样本数； 步骤S4、开展热应力加速退化试验，获得电子设备性能退化数据； 步骤S5、计算电子设备性能退化预计误差区间。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人哈尔滨工业大学，其通讯地址为：150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。