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龙图腾网获悉弗提图德萨沃有限公司申请的专利一种光学模组装调测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111609995B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910139890.7，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种光学模组装调测试方法及装置是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2019-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学模组装调测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种光学模组装调测试方法及装置，该装置通过在光学模组的成像光路上设置相机，用来模拟人眼的视觉效果，采集显示器件显示的测试图例在相机中的成像，通过采集的测试图例图像的清晰度指标、光轴偏移量指标和畸变指标来判断显示器件是否达到预定位置，通过在线调整显示器件的位置，直到满足测试图例图像的质量指标的设计要求。该装置能够根据相机拍摄的测试图例图像质量指标，及时调整显示器件的位置，一定程度上补偿光学模组的结构公差、装配公差和像差对光学模组成像品质造成的不良影响，有助于提高产品良率和组装效率。

本发明授权一种光学模组装调测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种光学模组装调测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1，将光学模组主体置于预定位置； 步骤S2，将光学模组的显示器件置于初始位置； 步骤S3，调整显示器件至目标位置；以及 步骤S4，固定显示器件， 其中，步骤S3包括： 步骤S31：控制第一调节机构调整显示器件的位置，相机依次采集显示器件显示的测试图例的图像，计算待组装光学模组的成像清晰度指标，在清晰度指标满足设计要求的测试图例的图像中，选取清晰度值最优的图像所对应的显示器件位置为第一预定位置； 步骤S32：计算显示器件位于第一预定位置时光学模组的光轴偏移量指标，若光轴偏移量指标不满足设计要求，则控制第一调节结构调整显示器件的位置，直到光轴偏移量指标满足设计要求，选取调整后的显示器件位置为第二预定位置；以及 步骤S33：计算光学模组在第一预定位置处成像的畸变指标，所述畸变指标包括畸变量和放大率，若所述畸变指标不满足设计要求，控制第一调节机构调整显示器件的位置，相机依次采集显示器件显示的测试图例的图像，在畸变指标满足设计要求的测试图例的图像中，选取畸变量最小和放大率满足设计要求的图像对应的位置为显示器件的第三预定位置， 在步骤S3中，先执行步骤S31，然后执行步骤S32和S33，且不限制步骤S32和S33的顺序，直至清晰度指标、光轴偏移量指标和畸变指标满足设计要求， 其中，所述步骤S33包括：选取测试图例中的任一四边形特征，获取所述测试图例的图像的对应四边形的四个矢量边长，则畸变量的计算式如式1所示： 其中，选取的四边形特征中，ab和cd为竖直方向的两条边的矢量长度，ac和bd为水平方向上的两条边的矢量长度；和或 选取所述显示器件显示的测试图例的图像中任意两点的距离与测试图例图像对应位置两点距离的比例关系，处理得到放大率。

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