申请/专利权人：厦门天马微电子有限公司

申请日：2017-03-07

公开（公告）日：2020-01-10

公开（公告）号：CN106909253B

主分类号：G06F3/041(20060101)

分类号：G06F3/041(20060101);G02F1/1362(20060101);G02F1/1333(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.01.10#授权;2017.07.25#实质审查的生效;2017.06.30#公开

摘要：本发明公开了一种触控显示面板及其触控显示装置，包括位于非显示区的多个测试走线组，每个测试走线组通过触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起，该测试走线组包括位于触控信号线的远离集成电路一侧的第一测试控制单元，与位于触控信号线的靠近集成电路一侧的第三开关器件。测试时，通过给该测试走线组的输入端输入不同的电压，并控制该测试走线组的开关器件的开启与关断，可以检测出整条触控信号线是否存在断线的问题，实现在面板制造阶段的不良拦截，减少后期模组材料浪费，并提高产品良率。

主权项：1.一种触控显示面板，其特征在于，包括：基板，包括显示区和非显示区；多个呈矩阵排列的触控电极块，位于所述显示区；多条触控信号线，将对应的所述触控电极块与位于所述非显示区的集成电路连接；多个测试走线组，位于所述非显示区，每个所述测试走线组通过所述触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起；每个所述测试走线组包括第一测试控制单元和第二测试控制单元；所述第一测试控制单元包括第一开关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，所述触控信号线包括第一触控信号线与第二触控信号线；所述第一输入端通过所述第一开关器件与所述第一触控信号线连接；所述第二输入端通过所述第二开关器件与所述第二触控信号线连接；所述第二测试控制单元包括第三开关器件，所述第一触控信号线与所述第二触控信号线通过所述第三开关器件串联；当对所述触控信号线进行检测时，通过所述第一输入端、所述第二输入端分时的给所述第一开关器件、所述第二开关器件的输入端提供一公共电压信号或一数据电压信号，所述公共电压信号与所述数据电压信号不相同。

全文数据：触控显示面板和触控显示装置技术领域[0001]本发明涉及触控技术领域，尤其涉及一种能检测断线的触控显示面板以及触控显示装置。背景技术[0002]随着显示技术的飞速发展，触控显示装置已经逐渐遍及人们的牛活中。目前，触控显示装置按照组成结构可以分为:外挂式、表面覆盖式以及内嵌式，其中，内嵌（Incell式触控显示装置将触控电极内嵌在液晶显示面板内部，可以减薄模组整体的厚度，又可以大大降低触控显示装置的制作成本，使其受到各大面板厂家青睐。[0003]现有的内嵌式触控显示面板（InCellTouchPanel，一般将液晶显示面板LiquidCrystalDisplay,LCD的公共电极层划分为多个触控电极块，并将每一触控电极块分别通过一触控信号线线与一控制端驱动单元连接，该驱动单元包括显示驱动用集成电路与触控驱动用集成电路，该触控电极块复用做显示用公共电极。在显示状态下，该触控电极块复用做显示用公共电极，接收显来自示驱动用集成电路的公共电压信号;在触控状态下，该触控电极块作为触控驱动电极，接收来自触控驱动用集成电路的触控驱动信号。[0004]该内嵌式触控显示面板的制造过程中，在绑定控制驱动单元之前并没有成熟有效的检测方式来检测触控电极以及相应的触控信号线是否存在异常，仅仅只能通过检测面板的显示功能来判断触控信号线是否发生异常，并在显示异常时透过光学显微镜机台判断是否存在断线现象，检测过程周期长、操作繁琐。[0005]图1是现有技术的一种触控显示面板的示意图，图2是现有技术的一种触控显示面板的检测电路连接示意图。如图1和2所示，现有的触控显示面板包括呈矩阵排列的触控电极块200和测试模块500。触控电极块200通过连接孔300连接至相应的触控信号线100,并通过相应的触控信号线100连接到集成电路400,复用为公共电极及触控检测电极。测试模块500通常设置在触控显示面板的远离集成电路400的一端。测试模块500包括多个开关器件501、控制信号输入端502以及测试信号输入端503。[0006]每一个触控电极块200通过一个对应的开关器件501连接到测试信号输入端503，所有开关器件501的控制端连接到控制信号输入端502。如图1、2所示，在对现有的触控显示面板进行检测时，通过给各个触控电极块200输入电压、并观察该触控电极块200所在区域是否被点亮来检查对应触控信号线100是否能够正常工作，而测试模块500仅设置在触控显示面板的远离集成电路400的一端，因此，该VTVisualTest，可视化测试检测的方法仅能够检测触控信号线100的位于连接孔300与测试模块500之间的虚线部分，而无法确认到该触控显示面板在触控检测时实际使用到的、触控信号线100的位于连接孔300与集成电路400之间的实线部分，即这种VT检测存在较大范围的盲区。发明内容[0007]为解决上述问题，本发明提供一种触控显示面板，其特征在于，包括:基板，包括显不区和非显示区；多个呈矩阵排列的触控电极块，位于显示区；多条触控信号线，将对应的所述触控电极块与位于非显示区的集成电路导通;多个测试走线组，位于非显示区，每个测试走线组通过触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起。[GOOS]在本发明的一个实施例中，上述测试走线组包括:第一测试控制单元，位于触控信号线的远离集成电路一侧的非显示区；第二测试控制单元，位于触控信号线的靠近集成电路一侧的非显示区。[0009]在本发明的一个实施例中，上述第一测试控制单元包括第一开关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，触控信号线包括第一触控信号线与第二触控信号线;该第一输入端通过第一开关器件与第一触控信号线连接;该第二输入端通过第一开关器件与第二触控信号线连接。[0010]在本发明的一个实施例中，测试时，上述第一输入端与上述第二输入端施加不同电压。[0011]在本发明的一个实施例中，上述第一测试控制单元还包括:第一控制信号输入端，连接上述第一开关器件的控制端；第二控制信号输入端，连接上述第二开关器件的控制端。[0012]在本发明的一个实施例中，上述第一开关器件与上述第二开关器件是薄膜晶体管，且上述第一开关器件与上述第二开关器件的控制端是该薄膜晶体管的栅极。[0013]在本发明的一个实施例中，上述第二测试控制单元包括第三开关器件，第一触控信号线与第二触控信号线通过该第三开关器件连接。[0014]在本发明的一个实施例中，上述第二测试控制单元还包括:第三控制信号输入端，连接第三开关器件的控制端。[0015]在本发明的一个实施例中，上述第三开关器件是薄膜晶体管，其第三开关器件的控制端是该薄膜晶体管的栅极。[0016]在本发明的一个实施例中，上述触控电极块包括与第一触控信号线连接的第一触控电极块，以及与第二触控信号线连接的第二触控电极块;该第一触控电极块与第二触控电极块位于同一列上，且相邻设置。[0017]在本发明的一个实施例中，上述集成电路设置于第二测试控制单元与触控信号线之间。[0018]本发明还提供一种触控显示装置，包括上述任一一项所述的触控显示面板。[0019]与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点：[0020]本发明提供的触控显示面板及触控显示装置，包括位于非显示区的多个测试走线组，每个测试走线组通过触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起，该测试走线组包括位于触控信号线的远离集成电路一侧的第一测试控制单元，与位于触控信号线的靠近集成电路一侧的第三开关器件。其中第一测试控制单元包括第一开关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，第一触控信号线的一端通过第一开关器件与第一输入端连接在一起，第二触控信号线的一端通过第二开关器件与第二输入端连接在一起；同时，第一触控信号线与第二触控信号线的另一端通过第三开关器件串联在一起。测试时，通过给第一输入端、第二输入端输入不同的电压，并控制第一开关器件、第二开关器件与第三开关器件的开启与关断，可以顺序的检测出整条触控信号线是否存在断线的问题，在触控显示装置制造过程中，实现在面板制造阶段的不良拦截，减少后期模组材料浪费，并提高产品良率。附图说明[0021]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：[0022]图1为现有技术的一种触控显示面板的示意图；[0023]图2是现有技术的一种触控显示面板的检测电路连接示意图；[0024]图3为本发明实施例的一种触控显示面板的检测电路连接示意图；[0025]图4为图3所示触控显示面板的检测电路的测试状态示意图；[0026]图5为图3所示触控显示面板的检测电路的另一测试状态示意图。具体实施方式[0027]下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。[0028]本发明提供的触控显示面板及触控显示装置，包括位于非显示区的多个测试走线组，每个测试走线组通过触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起，该测试走线组包括位于触控信号线的远离集成电路一侧的第一测试控制单元，与位于触控信号线的靠近集成电路一侧的第三开关器件。其中第一测试控制单元包括第一开关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，第一触控信号线的一端通过第一开关器件与第一输入端连接在一起，第二触控信号线的一端通过第二开关器件与第二输入端连接在一起；同时，第一触控信号线与第二触控信号线的另一端通过第三开关器件串联在一起。测试时，通过给第一输入端、第二输入端输入不同的电压，并控制第一开关器件、第二开关器件与第三开关器件的开启与关断，可以顺序的检测出整条触控信号线是否存在断线的问题，在触控显示装置制造过程中，实现在面板制造阶段的不良拦截，减少后期模组材料浪费，并提高产品良率。[0029]图3为本发明实施例的一种触控显示面板的检测电路连接示意图，该触控显示面板包括基板01，该基板01包括显示区012与非显示区011。多个由数据线、栅极线交叉形成的像素单元设置于基板01的显示区012,数据线与栅极线分别与与之对应的像素单元连接，集成电路40通过数据线给每个像素单元的像素电极提供一数据电压信号，用于图像显示。[0030]该触控显示面板还包括包括公共电极层与像素电极层，该公共电极层与像素电极层位于基板01的显示区012,且该公共电极层包括多个相互绝缘的触控电极块2〇,每个触控电极块20分时复用为触控检测电极和公共电极，该像素电极层包括多个像素电极（图中未示出）；每个触控电极块2〇与位于基板01的非显示区011的集成电路40连接。当触控电极块2〇作为触控检测电极时，集成电路40控制由该触控显示面板构成的触控显示装置实现触控感测，当触控电极块20块用作为公共电极时，在集成电路40的驱动下，该公共电极与与之对应的像素电极之间存在一个电压差，使得该区域可以根据需要显示不同的颜色，从而使得该触控显示面板所在的触控显示装置显示图像。[0031]具体的，该触控显示面板还包括多条触控信号线10,该多条触控信号线10与该多个触控电极块20对应设置，并与该多个触控电极块20通过连接孔30——对应连接。当触控电极块20作为触控检测电极时，每个触控电极块2〇通过触控信号线1〇与集成电路40连接。在触控检测过程中，由集成电路40产生触控驱动信号，经触控信号线10提供给触控电极块20,使触控电极块20带有一定电荷量，并由集成电路40经触控信号线1〇对触控电极块20中的带电状态的变化情况进行读取，通过带电状态的变化，可以判断出哪个或者哪些触控电极块20被触控，从而可以进一步确定出触控点的位置。触控驱动信号和带电状态的变化情况都可以理解为一个脉冲信号。[0032]该触控显示面板还包括多个测试走线组，位于基板01的非显示区〇11，每个测试走线组包括第一测试控制单元与第二测试控制单元，每个测试走线组将两个相邻的触控信号线10串联在一起，例如，将第一触控信号线101与第二触控信号线102串联在一起，进而将第一触控电极块201与第二触控电极块202串联在一起。[0033]具体的，在本实施例中，多个触控电极块20呈矩阵排列，多条触控信号线10延列方向延伸，与同一列上相邻两个触控电极块20相对应的触控信号线10相邻设置，例如，该两个相邻设置的触控电极块20分别为第一触控电极块201与第二触控电极块202,该两个相邻设置的触控信号线10分别为第一触控信号线101与第二触控信号线102,其中，第一触控电极块201通过第一触控信号线101与集成电路40连接，第二触控电极块202通过第二触控信号线102与集成电路40连接;且每个集成电路40设置于与之对应的触控信号线10的一端的非显示区011。[0034]第一测试控制单元设置于基板01上，且位于触控信号线10远离集成电路40的一端所在的非显示区011，具体的，第一测试控制单元包括第一开关器件T11、第二开关器件T12、第一输入端C0M11与第二输入端C0M12。该第一开关器件T11的输入端连接至第一输入端C0M11，用以接收第一电压信号，该第一开关器件T11的输出端与第一触控信号线101的远离集成电路40的一端连接，该第一开关器件T11的控制端连接至第一控制信号输入端SW11，从而可以通过第一控制信号来控制第一开关器件T11的关断与开启;该第二开关器件112的输入端与第二输入端⑶M12连接，用以接收第二电压信号，该第二开关器件T12的输出端与第二触控信号线102的远离集成电路40的一端连接，该第二开关器件T12的控制端连接至第二控制信号输入端SW12,从而可以通过第二控制信号来控制第二开关器件T12的关断与开启。[0035]测试时，给第一输入端C0M11与第二输入端C0M12施加不同电压。[0036]在本发明实施例中，例如，第一开关器件T11与第二开关器件T12可以是薄膜晶体管。相应的，当第一开关器件ni与第二开关器件T12为薄膜晶体管时，第一开关器件T11与第二开关器件T12的控制端是该薄膜晶体管的栅极。[0037]第二测试控制单元设置于基板01上，且位于触控信号线10的靠近集成电路40—侧的非显示区011，具体的，第二测试控制单元包括第三开关器件T2。第三开关器件T2的控制端连接至第三控制信号输入端SW2,且第一触控信号线101与第二触控信号线102通过该第三开关器件T2连接在一起。[0038]在本发明实施例中，例如，该处的第三开关器件T2可以是薄膜晶体管。相应的，当第三开关器件T2为薄膜晶体管时，第三开关器件T2的控制端是该薄膜晶体管的栅极。[0039]在本发明实施例中，集成电路40可以设置于第二测试控制单元与触控信号线1〇之间，也即，第三开关器件T2的分别通过集成电路40将第一触控信号线1〇1、第二触控信号线102串联在一起。_[0040]图4为图3所示触控显示面板的检测电路的测试状态不意图，图5为图3所本触控显示面板的检测电路的另一测试状态示意图，参考图4-5所示，在该触控显示面板的制造过程中，当需要对触控信号线进行检测时，通过第一输入端C0M11、第二输入端C0M12分时的给第一开关器件T11、第二开关器件T12的的输入端提供一公共电压信号或一数据电压信号，该公共电压信号与该数据电压信号不相同。[0041]检测时，首先，通过第一控制信号输入端SW11、第二控制信号输入端SW12与第三控制信号输入端SW2输入的控制信号使得第一开关器件T11与第三开关器件T2处于开启状态，而第二开关器件T12处于关断状态。在此状态下，第一触控电极块201与第二触控电极块202通过第一触控信号线1〇1与第二触控信号线102串联在一起，第一输入端C0M11通过第一触控信号101与第二触控信号线102给第一触控电极块201、第二触控电极块202提供一公共电压信号;又因为，与第一触控电极块201、第二触控电极块202相对应的像素电极会经由与之相连的数据线提供一数据电压信号，使得两者之间产生一电压差，从而会将第一触控电极块201、第二触控电极块202所在的区域点亮。[0042]接着，保持第一开关器件T11与第三开关器件T2处于开启状态，而第二开关器件T12处于关断状态，改变第一输入端C0M11的输入电压，使得第一输入端C0M11通过第一触控信号101与第二触控信号线102给第一触控电极块201、第二触控电极块202变换为提供一数据电压信号;又因为，与第一触控电极块201、第二触控电极块202相对应的像素电极同样会经由与之相连的数据线提供一数据电压信号，使得两者之间的电压差为零，因此，如果连接第一触控电极块201、第二触控电极块202与第一开关器件T11之间的连线不存在异常的话，第一触控电极块201、第二触控电极块202所在的区域会由原来的亮态变为暗态。[0043]也就是说，在第一触控电极块201、第二触控电极块202所在的区域处于亮态时，改变第一输入端C0M11的输入电压为数据电压，如果此时第一触控电极块201、第二触控电极块202所在的区域由亮态变为暗态，则表明整条第一触控信号线101与第二触控信号线1〇2的连接孔30与第二测试控制单元之间的部分10b正常，不存在断线问题。[0044]当然，如果此时，第一触控电极块201与第二触控电极块202的任何一个或者两个对应区域依然保持为亮态的话，可以证明第一触控信号线与第二触控信号线1〇2至少一个出现了断线问题，应该阻止其进入下一流程的模组组装阶段。[0045]同理，也可以据此判断第二触控信号线102与第一触控信号线101的连接孔30与第二测试控制单元之间的部分l〇b是否存在断线问题。[0046]具体的，通过第一控制信号输入端SW11、第二控制信号输入端SW12与第三控制信号输入端SW2输入的控制信号使得第二开关器件T12与第三开关器件T2处于开启状态，而第一开关器件T11处于关断状态。第二输入端C0M12通过第二触控信号102与第一触控信号线101给第一触控电极块201、第二触控电极块202提供一公共电压信号，将第一触控电极块201、第二触控电极块202所在的区域点亮;然后，改变第二输入端C0M12的输入电压为数据电压，第二输入端COM12通过第一触控信号101与第二触控信号线1〇2给第一触控电极块201、第二触控电极块202变换为提供一数据电压信号;又因为，与第一触控电极块2〇1、第二触控电极块202相对应的像素电极同样会经由与之相连的数据线提供一数据电压信号，使得两者之间的电压差为零，因此，如果第一触控电极块2〇1、第二触控电极块202所在的区域由亮态变为暗态，则表明整条第二触控信号线102与第一触控信号线1〇1的连接孔3〇与第二测试控制单元之间的部分10b正常，不存在断线问题。[0047]经过上述步骤，可以检测出整条触控信号线是否存在断线的问题，如果不存在断线问题，则可以正常进入下一制程，例如进行模组后期组装;如果存在断线问题，则做报废或者其它处理，阻止其继续进入下一制程，避免后期模组材料的浪费，进而在触控显示装置制造过程中，实现在面板制造阶段的不良拦截，减少后期模组材料浪费，并提高产品良率。[0048]检测步骤完成后，后续需要进行触控检测或者图像显示时，第三开关器件T13处于关断状态。[0049]本发明还提供一种触控显示装置，包括本发明实施例提供的触控显示面板，该触控显示面板包括位于非显示区的多个测试走线组，每个测试走线组通过触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起，该测试走线组包括位于触控信号线的远离集成电路一侧的第一测试控制单元，与位于触控信号线的靠近集成电路一侧的第三开关器件。其中第一测试控制单元包括第一开关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，第一触控信号线的一端通过第一开关器件与第一输入端连接在一起，第二触控信号线的一端通过第二开关器件与第二输入端连接在一起；同时，第一触控信号线与第二触控信号线的另一端通过第三开关器件串联在一起。测试时，通过给第一输入端、第二输入端输入不同的电压，并控制第一开关器件、第二开关器件与第三开关器件的开启与关断，可以顺序的检测出整条触控信号线是否存在断线的问题，在触控显示装置制造过程中，实现在面板制造阶段的不良拦截，减少后期模组材料浪费，并提高产品良率。[0050]注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

权利要求：1.一种触控显示面板，其特征在于，包括：基板，包括显示区和非显示区；多个呈矩阵排列的触控电极块，位于所述显示区；多条触控信号线，将对应的所述触控电极块与位于所述非显示区的集成电路连接；多个测试走线组，位于所述非显示区，每个所述测试走线组通过所述触控信号线将两个对应的触控电极块串联在一起。2.根据权利要求1所述触控显示面板，其特征在于，所述测试走线组包括:第一测试控制单元，位于所述触控信号线的远离所述集成电路一侧的所述非显示区；第二测试控制单元，位于所述触控信号线的靠近所述集成电路一侧的所述非显示区。3.根据权利要求2所述触控显示面板，其特征在于，所述第一测试控制单元包括第一幵关器件、第二开关器件、第一输入端与第二输入端，所述触控信号线包括第一触控信号线与第二触控信号线；所述第一输入端通过所述第一开关器件与所述第一触控信号线连接；所述第二输入端通过所述第二开关器件与所述第二触控信号线连接。4.根据权利要求3所述的触控显示面板，其特征在于，测试时，所述第一输入端与所述第二输入端施加不同电压。5.根据权利要求3所述触控显示面板，其特征在于，所述第一测试控制单元还包括:第一控制信号输入端，连接所述第一开关器件的控制端；第二控制信号输入端，连接所述第二开关器件的控制端。6.根据权利要求5所述的触控显示面板，其特征在于，所述第一开关器件与所述第二开关器件是薄膜晶体管，所述第一开关器件与所述第二开关器件的控制端是所述薄膜晶体管的栅极。7.根据权利要求3所述触控显示面板，其特征在于，所述第二测试控制单元包括第三开关器件，所述第一触控信号线与所述第二触控信号线通过所述第三开关器件串联。8.根据权利要求7所述触控显示面板，其特征在于，所述第二测试控制单元还包括:第三控制信号输入端，连接所述第三开关器件的控制端。9.根据权利要求8所述的触控显示面板，其特征在于，所述第三开关器件是薄膜晶体管，所述第三开关器件的控制端是所述薄膜晶体管的栅极。10.根据权利要求8所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控电极块包括与所述第〜触控信号线连接的第一触控电极块，以及与所述第二触控信号线连接的第二触控电极块；所述第一触控电极块与所述第二触控电极块位于同一列上，且相邻设置。11.根据权利要求2所述的触控显示面板，其特征在于，所述集成电路设置于所述第二测试控制单元与所述触控信号线之间。12.—种触控显示装置，其特征在于，所述触控显示装置包括如权利要求1至11中任意—项所述的触控显示面板。

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