申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2019-04-19

公开（公告）日：2020-02-14

公开（公告）号：CN109883343B

主分类号：G01B11/14(20060101)

分类号：G01B11/14(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.02.14#授权;2019.07.09#实质审查的生效;2019.06.14#公开

摘要：本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，属于光学精密测量技术领域。本发明在共焦测量系统中，首先在CCD探测的艾里斑图像上设置大、小虚拟针孔探测区域，并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线，其次将锐化共焦特性曲线进行双边错位差动相减处理得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线，然后利用该双边错位差动共焦特性曲线零点与共焦测量系统焦点精确对应的特性对被测镜组内外顶点位置进行高精度定焦寻位，最后通过光线追迹补偿计算精确得到被测镜组轴向间隙。与已有的镜组间隙测量方法相比，本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强、结构简单等优势，在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。

主权项：1.双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，其特征在于：包括以下步骤，a打开点光源1，调整被测镜组6使其与测量物镜4和准直透镜3共光轴，点光源1发出的光经分束镜2、准直透镜3和测量物镜4后汇聚成测量光束5聚焦在被测镜组6透镜上，被测镜组6反射的测量光束5再经测量物镜4和准直透镜3后被分束镜2反射进入到横向相减共焦探测系统7，形成的测量艾里斑10被CCD探测器9探测；c沿光轴方向移动被测镜组6使测量光束5的焦点与被测镜组6的透镜前表面顶点A位置重合；在该镜组透镜前表面顶点A位置附近相对轴向扫描测量物镜4或被测镜组6，将横向相减共焦探测系统7中大虚拟针孔探测域11探测到的大虚拟针孔探测共焦特性曲线13IBz和小虚拟针孔探测域12探测到的小虚拟针孔探测共焦特性曲线14ISz进行相减处理，得到半高宽压缩的锐化共焦特性曲线15Iz＝ISz-γIBz，其中z为轴向坐标，γ为调节因子；d将锐化共焦特性曲线15沿横向坐标平移S得到平移锐化共焦特性曲线16，并使锐化共焦特性曲线15和平移锐化共焦特性曲线16的侧边交汇，对锐化共焦特性曲线15和平移锐化共焦特性曲线16分别进行同横坐标点插值处理后，再进行逐点相减处理得到错位相减差动共焦特性曲线17IDz＝Iz-Iz,-S，利用差动共焦线性拟合直线18对错位相减差动共焦特性曲线17的线性段数据进行直线拟合，通过反向回移差动共焦点性拟合直线18S2位置的回移差动共焦拟合直线20的移位拟合直线零点21来精确确定测量光束5焦点与被测镜组6的顶点的重合位置，进而得到被测镜组6的透镜前表面顶点A位置Z1；e沿光轴方向移动测量物镜4或被测镜组6，使测量光束5的焦点与被测镜组6的透镜后表面顶点B重合；在所述镜组透镜顶点B位置附近轴向扫描测量物镜4或被测镜组6，由横向相减共焦探测系统7通过处理测得的测量艾里斑10得到锐化共焦特性曲线15后再进行双边错位相减处理，得到与测量物镜4焦点附近对应的第二错位相减差动共焦特性曲线22，主控计算机24按照步骤d通过对第二错位相减差动共焦特性曲线22进行线性拟合、拟合直线回移及确定回移拟合直线零点精确确定被测镜组6的后表面顶点位置B，记录此时被测镜组6的透镜后表面顶点B的位置Z2；f沿光轴方向移动被测镜组6，使测量光束5的焦点分别与被测镜组6内各透镜的表面顶点位置重合，即分别与每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合；在各表面顶点位置附近扫描被测镜组6，由横向相减共焦探测系统7得到错位相减差动共焦特性曲线17，依次通过回移差动共焦拟合直线20的移位拟合直线零点21来确定测量光束5的焦点精确定焦在被测镜组6组内各透镜的表面顶点位置，并将各顶点位置依次记为Z1，Z1，Z2，…，Zm，m为被测镜组6组内透镜的总透光面数；g根据建立的光线追迹及其补偿模型，依次计算得到被测镜组6组内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN＝lN′。

全文数据：双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法技术领域本发明涉及双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，可用于镜组间隙的非接触式高精度测量，属于光学精密测量技术领域。背景技术在光学领域中，镜组间隙的测量具有重要意义。光刻机物镜、航天相机等高性能光学系统的装配过程中，需要根据镜头中透镜的曲率半径和折射率对透镜轴向间隙、径向偏移和光轴偏角进行精密的调整。以光刻机物镜为例，每个单透镜的轴向间隙偏差都会造成光刻物镜的球差、像散、慧差、畸变等像差，影响物镜的成像质量。为了把轴向偏差控制到最小，需要对透镜轴向间隙的测量精度达到微米量级。目前，镜组内各透镜之间的间隙主要依靠机械加工与装配的精度来保证，装配过程中可以通过接触式测高的方法，结合单透镜的厚度计算透镜间的间隙。Mirau干涉仪可以通过代替接触式方法对安装过程中的单片透镜外表面进行高精度定位，实现准确的透镜装配，但却无法深入镜组内部对多个透镜表面进行高精度定位。国内外现有的轴向间隙测量的方法可分为接触式测量和非接触式测量两大类。接触式测量通常有两种：一是测量前一透镜的上顶点与后一透镜的上顶点的距离，然后减去透镜厚度。二是测量球面顶点到镜座端面的距离。接触式测量的主要缺点是容易划伤透镜表面。为避免划伤，通常在测量头与被测表面之间加一层保护纸，因此测量精度较低。有些镀有特殊膜层的表面，严禁接触式测量。对于已经装配完成的镜组，则需要拆卸后进行测量，拆卸和重新装配过程都会引入误差，所以接触式测量不适用于间隙的高精度测量。非接触式间隙测量主要有图像测量法、白光共焦法和干涉法。2005年《传感器技术》中发表的《基于图像测量技术的装配间隙在线测量研究》一文中，介绍了一种基于图像测量技术的在线测量方案，将间隙通过光学系统在CCD摄像机中成的像送交图像测量软件处理和分析，由测量软件给出结果。在镜组装配过程中，可以实时测量多个透镜之间的轴向间隙。但由于受摄像机成像系统、CCD分辨力、图像清晰程度和标定系数精确度等的影响，难以达到较高的测量精度，测量误差在0.015mm以内。同时对于已经装配完成的镜组，需要拆卸后进行测量，所以图像测量法也不适用于镜组间隙的高精度测量。2005年在《GLASSSCIENCEANDTECHNOLOGY》中发表的《Noncontactmeasurementofcentrallensthickness》一文中，采用白光共焦法测量透镜中心厚度。这种方法首先利用白光通过透镜后轴向色差形成的探针对被测镜组组表面顶点进行定位，然后通过被测镜组组上下表面顶点反射的光谱信息计算透镜的厚度。此方法也可以应用于测量镜组之间的轴向间隙，其特点在于能够实现实时测量，但白光是非相干光，定焦灵敏度和分辨力较低，工作距离有限30μm-25mm。特别是很难准确已知被测镜组组在不同波长处的折射率，一般都是通过测定特定波长处的折射率后插值所得，由于此项参数对测量结果的影响较大，所以这种方法在实际应用中很难达到较高的测量精度。中国专利“非接触式光学系统空气间隔测量工作方法及设备”专利号：01133730.3，采用干涉定位的原理，实现了空气间隔的非接触测量。在镜组安装过程中，此方法可代替接触式测高法来保证镜组内透镜之间的空气间隔，通过移动标准镜头，可对顺序安装的两透镜上表面顶点实现精确定位，用标准镜头两次定位的移动量减去后安装上的透镜的厚度即可得到两透镜之间的空气间隔。这种方法由标准镜头的焦点定位，其定位精度可达λ20以上，具有较高的测量精度。同时此方法属于非接触式测量，具有对被测镜组组无损伤、使用方便等优点。但对于已经装配完成的镜组则无法深入其内部进行间隙测量。应用较多的还有偏振干涉法，例如：美国专利“Opticalgapmeasuringapparatusandmethod”专利号：5953125，提出了一种高速测量两表面间距的光学方法和装置，其中第一表面是基本透明部件的部分，第二表面是测试物体表面，先用透镜将光束通过偏振部件以一个倾斜角度射到第一表面，并将测量光束5定位在受测表面上，再利用从第一表面和受测物体表面上反射光束的合光效应使偏振光束通过透明部件后反射，然后，用偏振灵敏强度探测器和相位探测器测量由入射平面限定的偏振分量的强度和相对相位，分析这些测量参数，即可得到两表面间隙。与此类似的还有美国专利“Gapmeasuringapparatususinginterferencefringesofreflectedlight”专利号：4932781。偏振干涉法的特点在于测量速度快、测量精度高。但这种方法目前主要应用于测量受测试物体表面相对于透明部件的平行表面之间的微小间隙，无法实现镜组内多个透镜间轴向间隙的高精度测量。本发明人曾于2010年申请国家专利“差动共焦镜组轴向间隙测量方法”专利号：201010000553.9，该方法通过差动共焦定焦原理对镜组内各透镜表面实现高精度定位，并获得各定位点处差动共焦测头的位置坐标，然后利用光线追迹递推公式依次计算镜组内各轴向间隙。该方法具有测量精度高，测量速度快等优点，但是必须使用两路探测器，并且这两路探测器的位置需保证离焦量相等，系统结构、装调过程比较复杂，装调不准所引入的误差可能较大；更换被测镜组组后，两探测器的离焦量可能需要重新调整。为了进一步提高镜组间隙的测量精度，本发明提出了一种双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，该方法通过相减处理来锐化共焦特性曲线，并利用锐化共焦特性曲线的双边错位差动相减处理得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线，然后利用该双边错位差动共焦特性曲线零点对被测镜组间隙测量顶点位置进行高精确定焦寻位，最后通过光线追迹补偿计算实现镜组轴向间隙的高精度测量。发明内容为了解决镜组间隙测量中高精确定焦难题，本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法的核心思想是：在共焦测量光路系统中，通过大、小虚拟针孔共焦特性曲线的横向相减处理来锐化共焦响应特性曲线，通过锐化共焦响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动共焦双极性定焦测量，通过差动共焦定焦曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度，进而提高镜组间隙测量中镜组透镜顶点位置的定焦精度，以期实现镜组轴向间隙的高精度测量。本发明的目的是通过下述技术方案实现的。本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，在共焦测量光路系统中，通过大、小虚拟针孔共焦特性曲线的横向相减处理来锐化共焦响应特性曲线，通过锐化共焦响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动共焦双极性定焦测量，通过差动共焦定焦曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度，进而提高镜组轴向间隙测量中镜组透镜顶点位置的定焦精度，以期实现镜组轴向间隙的高精度测量。本发明公开的双边错位差动共焦镜组间隙测量方法，包括以下步骤：a打开点光源，调整被测镜组使其与测量物镜和准直透镜共光轴，点光源发出的光经分束镜、准直透镜和测量物镜后汇聚成测量光束聚焦在被测镜组上，被测镜组反射的聚焦测量光束再经测量物镜和准直透镜后被分束镜反射进入到横向相减共焦探测系统，形成的测量艾里斑被CCD探测器探测；b沿光轴方向移动被测镜组使测量光束的焦点与被测镜组的透镜前表面顶点A位置重合；在该镜组透镜顶点A位置附近相对轴向扫描测量物镜或被测镜组，将横向相减共焦探测系统中大虚拟针孔探测域探测的大虚拟针孔探测共焦特性曲线IBz和小虚拟针孔探测域探测到的小虚拟针孔探测共焦特性曲线14ISz进行相减处理，得到半高宽压缩的锐化共焦特性曲线Iz＝ISz-γIBz，其中z为轴向坐标，γ为调节因子；c将锐化共焦特性曲线沿横向坐标平移S得到平移锐化共焦特性曲线，并使锐化共焦特性曲线和平移锐化共焦特性曲线的侧边交汇，对锐化共焦特性曲线和平移锐化共焦特性曲线分别进行同横坐标点插值处理后，再进行逐点相减处理得到错位相减差动共焦特性曲线IDz＝Iz-Iz,-S，利用差动共焦点性拟合直线对错位相减差动共焦特性曲线的线性段数据进行直线拟合，通过反向回移差动共焦点性拟合直线S2位置的回移差动共焦拟合直线的移位拟合直线零点来精确确定测量光束焦点与被测镜组的顶点A重合的位置，进而得到被测镜组的透镜前表面顶点A位置Z1；d沿光轴方向移动测量物镜或被测镜组，使测量光束的焦点与被测镜组的透镜后表面顶点B重合；在该镜组透镜顶点B位置附近轴向扫描测量物镜或被测镜组，由横向相减共焦探测系统通过处理测得的测量艾里斑得到锐化共焦特性曲线后再进行双边错位相减处理，得到与测量物镜焦点附近对应的第二错位相减差动共焦特性曲线，主控计算机按着步骤c通过对第二错位相减差动共焦特性曲线进行线性拟合、拟合直线回移及确定回移拟合直线零点来精确确定被测镜组的后表面顶点位置B，记录此时被测镜组透镜后表面顶点B的位置Z2；e沿光轴方向移动被测镜组，使测量光束的焦点与被测镜组组内各透镜的表面顶点位置重合，即每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合；在各表面顶点位置扫描被测镜组，由横向相减共焦探测系统得到错位相减差动共焦特性曲线，依次通过差动共焦响应曲线的过零点来确定测量光束精确定焦在被测镜组组内各透镜的表面顶点位置，并将顶点位置依次记为Z1，Z1，Z2，…，Zm，m为被测镜组组内透镜的总透光面数；f根据建立的光线追迹及其补偿模型，依次计算得到被测镜组组内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN＝lN′。本发明所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，将激光差动共焦技术与光线追迹技术有机融合，建立光线追迹及其补偿模型，消除各层析定焦表面参数间的相互影响，进而计算得到被测轴向间隙。如公式1所示，定义ρB为环形光瞳的最大半径，ηρB为环形光瞳的最小半径，ρ为参考测量光线的半径，SN代表被测镜组内第N个表面，ON为第N个表面SN的顶点，rN为第N个表面SN的曲率半径，nN为第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的材料折射率，dN为第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙，iN和iN′分别为光线在第N个表面SN的入射角和出射角，lF'为当前状态下标准会聚镜的像方顶焦距。其中，lN为SN顶点到SN入射光线与光轴交点的距离，lN′为SN顶点到SN出射线与光轴交点的距离，uN为SN入射光线与光轴的夹角，uN′为SN出射光线与光轴的夹角，z为测量光束会聚点的位置坐标。根据以上公式1消除各表面间参数对测量结果的影响，从而精确计算出第SN与SN+1之间的轴向间隙dN＝lN′。本发明所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，通过横向相减共焦探测系统得到锐化共焦特性曲线的方法如下：步骤一、在被测镜组扫描过程中，通过CCD探测器探测测量艾里斑，以测量艾里斑的重心为中心，在CCD探测器每帧探测图像上选定特定大小的大虚拟针孔探测域，将大虚拟针孔探测域中每个像素上的强度进行积分，得出大虚拟针孔探测共焦特性曲线；步骤二、同时以CCD探测器探测的测量艾里斑重心为中心，选择另一个小虚拟针孔探测域，所述小虚拟针孔探测域尺寸小于所述大虚拟针孔探测域，积分小虚拟针孔探测域的强度得到小虚拟针孔探测共焦特性曲线，小虚拟针孔探测共焦特性曲线的半高宽和峰值强度均低于大虚拟针孔探测共焦特性曲线；步骤三、将大虚拟针孔探测共焦特性曲线乘以调节因子γ，使得大虚拟针孔探测共焦特性曲线光强是小虚拟针孔探测共焦特性曲线的12倍；步骤四、将小虚拟针孔探测共焦特性曲线减去乘以调节因子γ后的大虚拟针孔探测共焦特性曲线，得到锐化共焦特性曲线。本发明所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，在光路中增加环形光瞳对测量光束进行调制，形成环形光束，降低测量元件参数时波像差对测量光束的影响，减少测量误差。有益效果：1本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，在共焦测量系统中利用大、小虚拟针孔探测横向相减锐化共焦特性曲线，利用锐化共焦响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动共焦双极性定焦测量，进而显著提高差动共焦定焦曲线的定焦灵敏度和信噪比，使镜组间隙测量中被测镜组前后表面顶点位置的定焦精度显著提高，以期显著提升镜组间隙测量精度。2相比于差动共焦测量系统，本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，在未增加硬件成本的情况下能够提高镜组间隙测量精度。3本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，通过大小虚拟光斑探测区横向相减处理探测，有效消除共模噪声，提升镜组间隙测量系统的抗环境干扰能力。4本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，在光路中引入环形光瞳，遮挡近轴光线，形成空心的测量光锥，削减像差的对测量结果的影响。5相比于经典的高精度干涉定焦方法，本发明公开的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，由于采用非干涉的艾里斑中心强度“点探测”方式，能够克服现有干涉定焦法对系统像差、环境振动、气流干扰和样品表面粗糙度极度灵敏的不足，大幅提高抗系统像差、环境干扰和表面散射的能力，能够显著提高镜组间隙测量精度。附图说明图1为本发明双边错位差动共焦镜组间隙测量方法示意图；图2为本发明大小虚拟针孔共焦特性曲线横向相减锐化示意图；图3为本发明锐化共焦特性曲线双边错位差动相减示意图；图4为本发明双边错位差动共焦曲线线性拟合触发定焦示意图；图5为本发明建立的光线追迹及其补偿模型示意图；图6为本发明实施例双边错位差动共焦镜组间隙测量方法示意图；图7为本发明实施例1的数据图；其中：1-点光源、2-分束镜、3-准直透镜、4-测量物镜、5-测量光束、6-被测镜组、7-横向相减共焦探测系统、8-显微物镜、9-CCD探测器、10-测量艾里斑、11-大虚拟针孔探测域、12-小虚拟针孔探测域、13-大虚拟针孔共焦特性曲线、14-小虚拟针孔共焦特性曲线、15-锐化共焦特性曲线、16-平移锐化共焦特性曲线、17-错位相减差动共焦特性曲线、18-差动共焦点性拟合直线、19-拟合直线零点、20-回移差动共焦拟合直线、21-移位拟合直线零点、22-第二错位相减差动共焦特性曲线、23-图像采集系统、24-主控计算机、25-多路电机驱动系统、26-轴向测量运动系统、27-五维调整系统、28-激光器、29-显微物镜、30-针孔、31-环形光瞳、32-第三错位相减差动共焦特性曲线、33-第四错位相减差动共焦特性曲线。具体实施方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。本实施例使用双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法来实现镜组间隙的高精度测量，核心思想是：在差动共焦测量系统中，通过大、小虚拟针孔横向相减探测来锐化共焦特性曲线，通过锐化共焦响应特性曲线的双边错位差动相减处理探测来实现镜组间隙测量中镜组透镜顶点位置的精确定焦，进而达到提高镜组间隙测量精度的目的。实施例：实现附图1所示的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法的实施装置如图6所示，其测量步骤是：a启动主控计算机24的测量软件，打开激光器28，激光器28发出的光经过显微物镜29和针孔30后形成点光源1。b调整被测镜组6使其与测量物镜4和准直透镜3共光轴，点光源1发出的光透过分束镜2、准直透镜3和测量物镜4后汇聚成测量光束5聚焦在被测镜组6上，被测镜组6反射的聚焦测量光束5再经测量物镜4和准直透镜3后被分束镜2反射进入到横向相减共焦探测系统7，主控计算机24中的测量软件，通过图像采集系统23获得由CCD探测器9采集到的测量艾里斑10。c沿光轴方向移动被测镜组6使测量光束5的焦点与被测镜组6的透镜顶点A位置重合；在该镜组透镜顶点位置附近相对轴向扫描被测镜组6，将横向相减共焦探测系统7中大虚拟针孔探测域11探测到的大虚拟针孔探测共焦特性曲线13IBz和小虚拟针孔探测域12探测到的小虚拟针孔探测共焦特性曲线14ISz进行相减处理，得到半高宽压缩的锐化共焦特性曲线15Iz＝ISz-γIBz，其中z为轴向坐标，γ为调节因子；如图2所示，大虚拟针孔探测域11和小虚拟针孔探测域12探测共焦特性曲线的方法为：在CCD探测器9探测焦前测量艾里斑10的每帧图像上选取一个预设大小的同心圆域，对大圆域内的每个像素光强进行积分得到一条共焦强度响应曲线IBz，对小圆域内的每个像素光强积分得到一条共焦强度响应曲线ISz，然后将IBz和ISz进行相减处理得到横向相减共焦响应曲线Iz＝ISz-γIBz，改变调节因子γ实现共焦特性曲线的优化。本实施例中同心圆域的大圆域直径选取11个像素，小圆域直径选取5个像素，γ＝0.5；d如图3所示，主控计算机24的测量软件将相减处理得到的锐化共焦特性曲线15沿横向坐标平移S得到平移锐化共焦特性曲线16，并使锐化共焦特性曲线1和平移锐化共焦特性曲线16的侧边交汇，对锐化共焦特性曲线15和平移锐化共焦特性曲线16分别进行同横坐标点插值处理后，再进行逐点相减处理得到错位相减差动共焦特性曲线17IDz＝Iz-Iz,-uS。e如图4所示，主控计算机24的测量软件对错位相减差动共焦特性曲线17的线性段数据进行直线拟合得到差动共焦线性拟合直线18，再通过反向回移差动共焦点性拟合直线18S2位置的回移差动共焦拟合直线20的移位拟合直线零点21来精确确定测量光束5焦点与被测镜组6的透镜顶点A重合的位置，进而确定被测镜组6的镜组透镜顶点A位置Z1，如图7所示，记录此时被测镜组6的镜组透镜顶点A位置Z1＝0.1622mm。f主控计算机24通过多路电机驱动系统25和轴向测量运动系统26控制五维调整系统27继续沿测量物镜4的光轴方向相向移动测量物镜4或被测镜组6，使测量光束5的焦点依次与被测镜组6的后表面顶点B、C和D重合；在该镜组透镜各顶点B、C和D位置附近轴向扫描被测镜组6，由横向相减共焦探测系统7依次通过处理测得的测量艾里斑10分别得到锐化共焦特性曲线15后再进行双边错位相减处理得到与被测镜组6的透镜表面顶点B、C和D对应的第二错位相减差动共焦特性曲线22、第三错位相减差动共焦特性曲线32、第四错位相减差动共焦特性曲线33，主控计算机24按着步骤e通过对第二错位相减差动共焦特性曲线22、第三错位相减差动共焦特性曲线32、第四错位相减差动共焦特性曲线33进行线性拟合、拟合直线回移及确定回移拟合直线零点精确确定被测镜组6的透镜表面顶点位置B、C和D，如图7所示，记录此时被测镜组6后表面顶点位置Z2＝-7.8946mm，Z3＝-8.2271mm，Z4＝-14.5258mm。g主控计算机24在测量软件中输入被测镜组6的参数，曲率半径从左往右依次为：r1＝195.426mm、r2＝-140.270mm、r3＝-140.258mm、r4＝400.906mm，折射率从左往右依次为：n0＝1，n1＝1.5143，n2＝1，n3＝1.668615。h如图5所示，主控计算机24根据被测镜组6的上述参数由以下的光线追迹递推公式递推计算得到两透镜之间轴向间隙d＝0.3178mm。以上结合附图对本发明的具体实施方式作了说明，但这些说明不能被理解为限制了本发明的范围，本发明的保护范围由随附的权利要求书限定，任何在本发明权利要求基础上的改动都是本发明的保护范围。

权利要求：1.双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，其特征在于：包括以下步骤，a打开点光源1，调整被测镜组6使其与测量物镜4和准直透镜3共光轴，点光源1发出的光经分束镜2、准直透镜3和测量物镜4后汇聚成测量光束5聚焦在被测镜组6透镜上，被测镜组6反射的聚焦测量光束5再经测量物镜4和准直透镜3后被分束镜2反射进入到横向相减共焦探测系统7，形成的测量艾里斑10被CCD探测器9探测；c沿光轴方向移动被测镜组6使测量光束5的焦点与被测镜组6的透镜前表面顶点A位置重合；在该镜组透镜前表面顶点A位置附近相对轴向扫描测量物镜4或被测镜组6，将横向相减共焦探测系统7中大虚拟针孔探测域11探测到的大虚拟针孔探测共焦特性曲线13IBz和小虚拟针孔探测域12探测到的小虚拟针孔探测共焦特性曲线14ISz进行相减处理，得到半高宽压缩的锐化共焦特性曲线15Iz＝ISz-γIBz，其中z为轴向坐标，γ为调节因子；d将锐化共焦特性曲线15沿横向坐标平移S得到平移锐化共焦特性曲线16，并使锐化共焦特性曲线15和平移锐化共焦特性曲线16的侧边交汇，对锐化共焦特性曲线15和平移锐化共焦特性曲线16分别进行同横坐标点插值处理后，再进行逐点相减处理得到错位相减差动共焦特性曲线17IDz＝Iz-Iz,-S，利用差动共焦线性拟合直线18对错位相减差动共焦特性曲线17的线性段数据进行直线拟合，通过反向回移差动共焦点性拟合直线18S2位置的回移差动共焦拟合直线20的移位拟合直线零点21来精确确定汇聚测量光束5焦点与被测镜组6的顶点的重合位置，进而得到被测镜组6的透镜前表面顶点A位置Z1；e沿光轴方向移动测量物镜4或被测镜组6，使测量光束5的焦点与被测镜组6的透镜后表面顶点B重合；在所述镜组透镜顶点B位置附近轴向扫描测量物镜4或被测镜组6，由横向相减共焦探测系统7通过处理测得的测量艾里斑10得到锐化共焦特性曲线15后再进行双边错位相减处理，得到与测量物镜4焦点附近对应的第二错位相减差动共焦特性曲线22，主控计算机24按着步骤d通过对第二错位相减差动共焦特性曲线22进行线性拟合、拟合直线回移及确定回移拟合直线零点精确确定被测镜组6的后表面顶点位置B，记录此时被测镜组6的透镜后表面顶点B的位置Z2；f沿光轴方向移动被测镜组6，使测量光束5的焦点分别与被测镜组6内各透镜的表面顶点位置重合，即分别与每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合；在各表面顶点位置附近扫描被测镜组6，由横向相减共焦探测系统7得到错位相减差动共焦特性曲线17，依次通过回移差动共焦拟合直线20的移位拟合直线零点21来确定测量光束5的焦点精确定焦在被测镜组6组内各透镜的表面顶点位置，并将各顶点位置依次记为Z1，Z1，Z2，…，Zm，m为被测镜组6组内透镜的总透光面数；g根据建立的光线追迹及其补偿模型，依次计算得到被测镜组6组内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN＝lN′。2.根据权利要求1所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，其特征在于：将激光差动共焦技术与光线追迹技术有机融合，建立光线追迹及其补偿模型，消除各层析定焦表面参数间的相互影响，进而计算得到被测镜组轴向间隙；如公式2所示，定义ρB为环形光瞳的最大半径，ηρB为环形光瞳的最小半径，ρ为参考测量光线的半径，SN代表被测镜组6内第N个表面，ON为第N个表面SN的顶点，rN为第N个表面SN的曲率半径，nN为第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的材料折射率，dN为第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙，iN和iN′分别为光线在第N个表面SN的入射角和出射角，lF'为当前状态下标准会聚镜的像方顶焦距。其中，lN为SN顶点到SN入射光线与光轴交点的距离，lN′为SN顶点到SN出射线与光轴交点的距离，uN为SN入射光线与光轴的夹角，uN′为SN出射光线与光轴的夹角，z为测量光束5会聚点的位置坐标。根据以上公式1消除各表面间参数对测量结果的影响，从而精确得到第SN与SN+1之间的轴向间隙dN＝lN′。3.根据权利要求1所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，其特征在于：通过横向相减共焦探测系统7得到锐化共焦特性曲线15的方法如下：步骤一、在被测镜组6扫描过程中，通过CCD探测器9探测测量艾里斑10，以测量艾里斑10的重心为中心，在CCD探测器9每帧探测图像上选定预设大小的大虚拟针孔探测域11，将大虚拟针孔探测域11中每个像素上的强度进行积分，得出大虚拟针孔探测共焦特性曲线13；步骤二、同时以CCD探测器9探测的测量艾里斑10重心为中心，选择另一个小虚拟针孔探测域12，所述小虚拟针孔探测域12尺寸小于所述大虚拟针孔探测域11，积分小虚拟针孔探测域12的强度得到小虚拟针孔探测共焦特性曲线14，小虚拟针孔探测共焦特性曲线14的半高宽和峰值强度均低于大虚拟针孔探测共焦特性曲线13；步骤三、将大虚拟针孔探测共焦特性曲线13乘以调节因子γ，使得大虚拟针孔探测共焦特性曲线13光强是小虚拟针孔探测共焦特性曲线14的12倍；步骤四、将小虚拟针孔探测共焦特性曲线14减去乘以调节因子γ后的大虚拟针孔探测共焦特性曲线13，得到锐化共焦特性曲线15。4.根据权利要求1所述的双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法，其特征在于：在光路中增加环形光瞳31对测量光束5进行调制，形成环形光束，降低测量元件参数时波像差对测量光束5的影响，减少测量误差。

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