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【发明授权】提供用于仪表校验结果的质量测量的方法_施耐德电子系统美国股份有限公司_201511035751.8 

申请/专利权人:施耐德电子系统美国股份有限公司

申请日:2015-10-30

公开(公告)日:2020-09-15

公开(公告)号:CN105698903B

主分类号:G01F25/00(20060101)

分类号:G01F25/00(20060101);G01F1/84(20060101);G01F15/10(20060101)

优先权:["20141031 US 14/530,400"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.09.15#授权;2018.12.11#著录事项变更;2017.11.24#实质审查的生效;2016.06.22#公开

摘要:本发明涉及提供用于仪表校验结果的质量测量的方法。一种用于评价质量流率测量结果的系统包括流量计和诊断系统。诊断系统被构造成,执行诊断测试以用于检测可能损害流量计操作的流量计上的物理变化,输出诊断测试的结果,利用与过程状况有关的信息评价诊断测试的可靠性,以及输出对诊断测试的可靠性的指示。

主权项:1.一种用于评价科里奥利质量流量计的方法,该科里奥利质量流量计具有流管、用于驱动流管的驱动器、用于在不同位置处感测流管的振动响应并提供代表振动响应的信号的一对传感器、以及被配置为基于传感器信号之间的相位差确定流过流管的流体的质量流率的处理器,该方法包括:执行诊断测试,以用于检测流管中的可能损害科里奥利质量流量计操作的物理变化;输出诊断测试的结果;利用与过程状况有关的信息评价诊断测试的可靠性;以及输出对诊断测试的可靠性的指示,其中,该评价包括利用与供给到驱动器的能量的量有关的信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 施耐德电子系统美国股份有限公司 提供用于仪表校验结果的质量测量的方法

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