申请/专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司

申请日：2021-04-20

公开（公告）日：2022-09-27

公开（公告）号：CN113176074B

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02;G01M11/00;G02F1/13

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.09.27#授权;2021.08.13#实质审查的生效;2021.07.27#公开

摘要：本发明涉及非接触式Demura‑Gamma‑Flicker三合一测量系统，包括模块：相机工作模式选择与切换模块：根据模式选择指令将彩色相机切换到对应的工作模式；图像采集模块：根据对应图像采集模式，获得采集的图像；数据处理模块：根据对应工作模式和采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果。本发明还涉及测量方法，包括步骤：Flicker测量和校正，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；或Demura测量和校正，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据；或Gamma测量和校正，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据；进行数据烧录。本发明使相机同时具备高帧率、高分辨率工作模式，无需多个设备；无需设备切换；无需多次拆装设备；LED参数一次性烧录进LED。

主权项：1.一种非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统，其特征在于：包括以下模块：相机工作模式选择与切换模块3：用于根据模式选择指令将彩色相机1切换到对应的工作模式，所述工作模式包括Demura工作模式、Gamma工作模式、Flicker工作模式；图像采集模块4：所述图像采集模块4同时具有2种图像采集模式，分别为：高帧率图像采集模式和高分辨图像采集模式；所述图像采集模块4根据彩色相机1所对应的工作模式选择对应的所述图像采集模式，获得采集的图像；数据处理模块5：用于根据所述彩色相机1对应的所述工作模式和所述采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果；所述数据处理结果包括Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据、Gamma工作模式下的补偿数据和Demura工作模式下的补偿数据中的至少一种。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统及方法

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