申请/专利权人：中国科学院半导体研究所

申请日：2022-09-30

公开（公告）日：2023-01-06

公开（公告）号：CN115575970A

主分类号：G01S17/14

分类号：G01S17/14;G01S17/42;G01S7/4863

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要：本公开提供一种日盲紫外测距系统及方法，应用于光电信息技术领域，该方法包括：调制发送端，用于生成伪随机数字序列，将伪随机数字序列调制到紫外脉冲光上以产生紫外光脉冲信号，并将紫外光脉冲信号发送至待测目标；接收测距端，用于接收经待测目标反射的紫外光脉冲信号，将反射的紫外光脉冲信号转换为数字信号，对数字信号进行解码解调同步处理及信道估计得到时间信息，并根据时间信息计算测距系统与待测目标之间的距离。该日盲紫外测距系统及方法具有测距响应快、实时性好、准确性高、抗日光干扰等优势。

主权项：1.一种日盲紫外测距系统，其特征在于，包括：调制发送端，用于生成伪随机数字序列，将所述伪随机数字序列调制到紫外光上以产生紫外光脉冲信号，并将所述紫外光脉冲信号发送至待测目标；接收测距端，用于接收经所述待测目标反射的紫外光脉冲信号，将反射的紫外光脉冲信号转换为数字信号，对所述数字信号进行解码解调同步处理及信道估计得到时间信息，并根据所述时间信息计算测距系统与待测目标之间的距离。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院半导体研究所 日盲紫外测距系统及方法

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