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【发明公布】工业缺陷实例分割方法_华中科技大学;武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司_202211293698.1 

申请/专利权人:华中科技大学;武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司

申请日:2022-10-21

公开(公告)日:2023-01-24

公开(公告)号:CN115641437A

主分类号:G06V10/26

分类号:G06V10/26;G06V10/40;G06V10/82;G06V10/77;G06V10/80;G06V10/25;G06V10/764;G06V10/766;G06V10/28;G06N3/0464;G06N3/08;G06T7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.24#公开

摘要:本发明公开了一种工业缺陷实例分割方法。所述方法包括以下步骤:训练时不固定特征提取网络的浅层网络参数,以保证在开源自然实例数据集上得到的预训练网络能更好地拟合到工业缺陷实例,对工业缺陷实例进行有效的特征提取;使用级联缺陷区域建议模块,避免了从自然实例分割任务迁移到工业缺陷实例分割任务进行的大量参数调整,采用了多次候选框优化的机制提高了算法精度;提出了自适应分割质量评估探头,该模块能根据分割结果生成自适应的分割阈值进行分割结果的二值化,并对分割结果进行打分,解决了实例分割打分偏高的问题。以上设计使得本发明能够有效地解决工业缺陷实例分割问题。

主权项:1.一种工业缺陷实例分割方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,训练工业缺陷实例分割网络1,使用带有实例级别标注的图像作为训练数据输入到训练工业缺陷实例分割网络模型中,利用损失函数对训练过程进行约束;其中步骤S1包括3个子步骤:S1-1,工业图像特征提取;S1-2,基于级联缺陷区域建议模块的工业缺陷定位;S1-3,基于自适应分割质量评估的工业缺陷实例分割;步骤S2,分割阶段,将含有工业缺陷区域的测试图像2输入到工业缺陷实例分割网络1中得到工业缺陷实例分割结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华中科技大学;武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 工业缺陷实例分割方法

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