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【发明授权】检测系统及检测方法_深圳市华星光电半导体显示技术有限公司_202110220773.0 

申请/专利权人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

申请日:2021-02-26

公开(公告)日:2023-05-30

公开(公告)号:CN112859400B

主分类号:G02F1/13

分类号:G02F1/13

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.05.30#授权;2021.06.15#实质审查的生效;2021.05.28#公开

摘要:本申请公开了一种检测系统及方法,包括:检测平台,检测平台包括多个待检测区域,待检测区域用于放置待检测的显示面板;阵列测试器,用于检测显示面板是否异常;用于检测阵列测试器异常的至少一个检测装置,每个检测装置包括:第一支架,第一支架的长度与待检测区域的长度宽度匹配;光学检测单元,设置在第一支架上,可在第一支架上移动,用于检测阵列测试器是否存在异常;清洁单元,设置在第一支架上,可在第一支架上移动,用于清除阵列测试器上的杂质。该检测系统及方法,新增清洁单元清洁阵列测试器表面的杂质,新增光学检测单元检测阵列测试器表面是否异常;减少阵列测试器的损耗,降低因阵列测试器表面异常造成的产品损坏,降低生产成本。

主权项:1.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:检测平台,所述检测平台包括多个待检测区域,所述待检测区域用于放置待检测的显示面板;阵列测试器,所述阵列测试器用于检测所述显示面板是否异常;用于检测所述阵列测试器异常的至少一个检测装置,每个检测装置包括:第一支架,所述第一支架的长度与所述待检测区域的长度宽度匹配;光学检测单元,所述光学检测单元设置在所述第一支架上,所述光学检测单元可在所述第一支架上移动,所述光学检测单元用于检测阵列测试器是否存在异常;清洁单元,所述清洁单元设置在所述第一支架上,所述清洁单元可在所述第一支架上移动,所述清洁单元用于清除所述阵列测试器上的杂质。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 检测系统及检测方法

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