申请/专利权人：中国电子科技集团公司第二十九研究所

申请日：2023-04-11

公开（公告）日：2023-08-18

公开（公告）号：CN116609728A

主分类号：G01S7/02

分类号：G01S7/02;G01S7/285

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.09.05#实质审查的生效;2023.08.18#公开

摘要：本发明提供一种全脉冲的像素化特征表述方法，包括：通过将全脉冲PDW序列融入时间维度信息实现全脉冲的等时间间隔采样，来实现全脉冲的像素化特征表述。本发明针对全脉冲PDW序列各特征参数随时间变化的诸如起伏、抖动特征表示不明朗的问题，提出了一种全脉冲的像素化特征表述方法，即“全脉冲像素化”，该方法利用将全脉冲PDW序列融入时间维度信息实现全脉冲的等时间间距采样，经过像素化后的全脉冲PDW序列自身带有时间信息，而不再依赖到达时刻TOA的表征，且像素化PDW脉冲序列能够更明朗、直截地表征PDW脉冲描述字包络的起伏、抖动特征。

主权项：1.一种全脉冲的像素化特征表述方法，其特征在于，包括：通过将全脉冲PDW序列融入时间维度信息实现全脉冲的等时间间隔采样，来实现全脉冲的像素化特征表述。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种全脉冲的像素化特征表述方法、介质及装置

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