申请/专利权人:梵塔半导体技术(杭州)有限公司
申请日:2023-05-09
公开(公告)日:2023-09-12
公开(公告)号:CN116735947A
主分类号:G01R19/175
分类号:G01R19/175;G01R1/30;H03K17/687
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2023.09.29#实质审查的生效;2023.09.12#公开
摘要:本发明实施例提供了一种谷底检测方法、电路、芯片及开关电路。该谷底检测方法适用于开关电路,包括以下步骤:检测所述开关电路的输入电压;检测所述开关电路的开关管的漏极与源极之间的开关管电压;比较所述输入电压和开关管电压的大小;当所述开关管电压小于或等于所述输入电压时,开始计时;当计时时长达到延迟时长时,产生谷底信号。该谷底检测方法无需使用辅助绕组即可实现谷底检测。
主权项:1.一种谷底检测方法,适用于开关电路,其特征在于,包括以下步骤:检测所述开关电路的输入电压;检测所述开关电路的开关管的漏极与源极之间的开关管电压;比较所述输入电压和开关管电压的大小;当所述开关管电压小于或等于所述输入电压时,开始计时;当计时时长达到延迟时长时,产生谷底信号。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 梵塔半导体技术(杭州)有限公司 谷底检测方法、电路、芯片及开关电路
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