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申请/专利权人：武汉大学
申请日：2023-07-07
公开（公告）日：2023-10-13
公开（公告）号：CN116886263A
主分类号：H04L9/00
分类号：H04L9/00;H04L9/06
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2023.10.31#实质审查的生效;2023.10.13#公开
摘要：本申请在利用TVLA进行侧信道泄漏检测时，发现泄漏点聚集分布，且泄漏点分布段内的功耗序列间，对相关序列进行自相关性检验，发现存在较高的自相关性。如果忽视序列间的相关性，进行对序列进行T‑检验可能存在漏检风险。为了解决上述问题，本申请提出了改进的TVLA的检测流程，在检测过程增加了对功耗序列间自相关性的评估，并提出基于离散Fréchet距离相似性的侧信道泄漏检测方法，将序列间自相关系数较高功耗时间序列看成一个整体，进行检验。最后根据检测流程形成基于离散Fréchet距离相似性检验泄漏检测平台，用于实际的侧信道泄漏检测。本发明可以解决传统TVLA进行在泄漏检测时，忽视序列间的相关性，T‑检验存在的漏检风险问题。
主权项：1.基于离散Fréchet距离相似性的侧信道泄漏检测方法，其特征在于，包括：采集将固定明文和随机明文作为加密算法输入时加密算法执行过程产生的能量消耗，其中，固定明文和随机明文作为加密算法输入产生的能量消耗形成功耗迹集，分别为固定明文功耗迹集和随机明文功耗迹集，两侧信道迹线集各自包含功耗曲线N条，每条功耗曲线包含n个采样点，N和n为正整数；从固定明文功耗迹集中的每条功耗迹上，截取出固定明文或密钥参与加密运算执行过程产生的功耗曲线段，构成固定明文功耗曲线集，从随机明文功耗迹集中的每条功耗迹上，截取出随机明文或密钥参与加密运算执行过程产生的功耗曲线段，构成随机明文功耗曲线集；利用自相关性检验方法计算截取出的与固定明文功耗迹集对应的功耗曲线段中各采样点对应的功耗序列间的相关性，并截取相关系数符合预设条件的功耗序列段，形成与固定明文功耗迹集对应的检测曲线段；利用自相关性检验方法计算截取出的与随机明文功耗迹集对应的功耗曲线段中各采样点对应的功耗序列间的相关性，并截取相关系数符合预设条件的功耗序列段，形成与随机明文功耗迹集对应的检测曲线段；计算固定明文功耗迹集对应的检测曲线段与随机明文功耗迹集对应的检测曲线段之间的Fréchet距离相似度；根据Fréchet距离相似度与阈值的比较情况判定是否存在泄露。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉大学 基于离散Fréchet距离相似性的侧信道泄漏检测方法及系统
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