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【发明授权】一种双模式QFP与SOP封装元器件引脚共面性检测系统_中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所_202111364898.7 

申请/专利权人:中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所

申请日:2021-11-17

公开(公告)日:2023-10-24

公开(公告)号:CN114322756B

主分类号:G01B11/00

分类号:G01B11/00;G01B11/02;G01B7/00;G01B7/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.10.24#授权;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要:本发明公开了一种双模式QFP与SOP封装元器件引脚共面性检测系统,包括元器件传送装置、元器件取放装置、激光元器件共面性非接触式测量装置、电阻共面性接触式测量装置、视频显示器和主控制器;元器件传送装置将QFP或SOP封装元器件传送至指定位置,元器件取放装置将元器件拾取后,放置在指定测量位置;激光元器件共面性非接触式测量装置对元器件进行激光非接触式测量,测量出元器件引脚是否存在非共面性问题;电阻共面性接触式测量装置对阻值接触器上升位移进行测量,当阻值接触器上升位移超过规定尺寸时自动语音报警。本发明系统能够解决SMT生产线焊装元器件前的大量不符合共面性的元器件的筛选问题,有效剔除不合格元器件。

主权项:1.一种双模式QFP与SOP封装元器件引脚共面性检测系统,其特征在于,包括元器件传送装置、元器件取放装置、激光元器件共面性非接触式测量装置、电阻共面性接触式测量装置、视频显示器和主控制器;所述元器件传送装置用于将QFP或SOP封装元器件传送至指定位置,按间隔在传送带上摆放元器件,便于所述元器件取放装置逐个拾取;所述元器件取放装置用于将元器件传送装置上的QFP或SOP封装元器件用元器件取放装置的吸嘴拾取后,放置在指定测量位置;所述激光元器件共面性非接触式测量装置包括激光头、激光测量塔、底座和轨道;所述激光头安装在激光测量塔上,激光头能上下移动;所述激光测量塔安装在底座上,底座安装在滑轨上,底座能在滑轨上左右移动,带动激光头左右移动;所述激光元器件共面性非接触式测量装置用于对放置好的待测QFP或SOP封装元器件进行激光非接触式测量,测量出元器件引脚是否存在非共面性问题,当共面性相对差值超过规定尺寸时自动语音报警;所述电阻共面性接触式测量装置包括两排引脚测量接触槽、阻值接触器和指示灯;所述两排引脚测量接触槽的间距能够覆盖QFP与SOP封装元器件引脚两侧的根部到根部的宽度,每个引脚测量接触槽内有一个阻值接触器,阻值接触器的尺寸小于引脚测量接触槽内尺寸,测试时阻值接触器从槽内升起对待测器件两排的所有引脚进行全部接触,接触到位后每个引脚测量接触槽对应的指示灯会亮起,通过该装置对阻值接触器上升位移进行测量,当阻值接触器上升位移超过规定尺寸时自动语音报警,并在视频显示器中显示相关数据;所述视频显示器用于显示待测QFP或SOP封装元器件测量的状态及报表,并在激光元器件共面性非接触式测量装置或电阻共面性接触式测量装置报警时画面闪烁;所述主控制器用于控制激光元器件共面性非接触式测量装置与电阻共面性接触式测量装置能够同时配合进行测量,当电阻共面性接触式测量装置测量元器件的左右两排引脚时,激光元器件共面性非接触式测量装置对元器件的前后两排引脚进行测试,用以缩短每只元器件的测试时间;同时所述主控制器能够控制系统实现边传送边测试的自动化过程,还能实现多系统联网并行测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种双模式QFP与SOP封装元器件引脚共面性检测系统

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