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【发明公布】具有残片检测功能的矩阵式智能模组数粒系统及方法_南京比逊弥特智能科技有限公司_202311291825.9 

申请/专利权人:南京比逊弥特智能科技有限公司

申请日:2023-10-08

公开(公告)日:2023-11-10

公开(公告)号:CN117022817A

主分类号:B65B57/20

分类号:B65B57/20;B65B37/16;B65B57/14;B65B57/00;B65B37/04;B65B55/00;G06T7/00;G06T7/13

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.12.01#授权;2023.11.28#实质审查的生效;2023.11.10#公开

摘要:本发明提供了一种具有残片检测功能的矩阵式智能模组数粒系统及方法,其中数粒系统包括机架,设置在所述机架上的输送部,设置在所述输送部上的供料部,还包括与所述输送部的传送末端对接设置的检测部和出料部,所述检测部具有无盲区残片检测功能。所述检测部的检测单元为采用矩阵式排列的贴片式红外接收传感器,具有全自动补偿光功能,通过软硬件结合,实现无盲区检测,速度快,准确率高。

主权项:1.具有残片检测功能的矩阵式智能模组数粒系统,其特征在于,包括:机架(1),具有延伸预定长度的本体;供料部(2),被配置于机架的一端,用于存储待处理颗粒;输送部(3),安装于机架上,输送部至少包括第一输送单元和第二输送单元,第一输送单元的接料端延伸至供料部的出料口;第二输送单元的接料端位于第一输送单元的送料端下方;检测部(4),包括至少三组检测单元,均设置于第二输送单元的送料端下方;每一检测单元设置有矩阵排列的、用于对颗粒进行计数的光栅传感器;出料部(5),包括至少三组出料通道,分别与检测单元连通,以使颗粒通过检测单元进入出料部;图像采集单元,被配置于机架上方或侧部,图像采集单元的视场至少包括第一输送单元和第二输送单元输料路径的截面部分;智控单元,用于接收图像采集单元的图像数据并调用预配置的图像处理模块检测待处理的颗粒中是否具有残片,结合检测部的计数值给出最终判断结果并输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京比逊弥特智能科技有限公司 具有残片检测功能的矩阵式智能模组数粒系统及方法

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