申请/专利权人：悦芯科技股份有限公司

申请日：2023-08-28

公开（公告）日：2023-11-14

公开（公告）号：CN116821045B

主分类号：G06F15/78

分类号：G06F15/78;G06F11/22

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.11.14#授权;2023.10.24#实质审查的生效;2023.09.29#公开

摘要：本发明公开了一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，属于芯片测试技术领域，具体包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi‑Fix的接口板和插座基板，其中：主板，用于将来自不同信号发生器中的信号整理成相同的block并连接到接口板中，根据待测芯片选择对应的信号发生器配置；接口板，用于作为连接器联通主板和插座基板，通过relay切换使用接口板中的信号，并用于放置插座基板中放置不下的器件；插座基板，用于直接与待测芯片接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的待测芯片，由若干个小板卡组成；本发明降低了芯片测试的板卡的复杂度，增加了可替代性。

主权项：1.一种用于512个DUT存储器器件测试的板卡结构，其特征在于，包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi-Fix的接口板和插座基板，其中：主板，用于将来自不同信号发生器中的信号整理成相同的block并连接到接口板中，根据待测芯片选择对应的信号发生器配置；接口板，用于作为连接器联通主板和插座基板，通过relay切换使用接口板中的信号，并用于放置插座基板中放置不下的器件；插座基板，用于直接与待测芯片接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的待测芯片，由若干个小板卡组成；所述主板包括4块，每块主板中包括32个完全相同的连接器，将不同信号发生器中的信号整合到连接器并传递到接口板中，每个连接器中的信号均匀分配；每块接口板中有4个连接器，每块主板通过线缆与8块相同的接口板连接，共连接32块完全相同的接口板；插座基板与接口板中连接器的位置相同，插座基板与接口板之间一一对应，共包括32块完全相同的插座基板，每个插座基板中有4个连接器，每个连接器中的信号通过插座基板分配至4个待测芯片进行测试；主板同时对512个DUT进行并行测试；主板包括A、B、C和D四块区域，4块主板按照中心对称与四块区域对应，每块区域内包括12列不同的SLOT，将SLOT根据从区域的边缘至中心依次命名为SL01,SL02,…,SL12，每一列SLOT对应一块信号发生器，其中SL04并不放置信号发生器，SL01到SL03放置功率类型的信号发生器，SL05到SL12放置数字类型的信号发生器和连接到接口板的连接器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 悦芯科技股份有限公司 一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构

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