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【发明授权】一种曲面成像光谱仪光谱弯曲实时校正读取方法和装置_中国科学院合肥物质科学研究院_202111063924.2 

申请/专利权人:中国科学院合肥物质科学研究院

申请日:2021-09-10

公开(公告)日:2023-11-24

公开(公告)号:CN113884185B

主分类号:G01J3/28

分类号:G01J3/28;G01J3/02;H04N25/71

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.01.21#实质审查的生效;2022.01.04#公开

摘要:本发明公开了一种曲面成像光谱仪光谱弯曲实时校正读取方法和装置,可以通过输入光谱弯曲校正参数来实时校正成像光谱仪图像。成像光谱仪探测器所获取的光谱图像数据为二维图像,其中一维为光谱维,另一维为空间维。通过相同谱线像元拟合的方法得到全像面的谱线校正参数,校正参数传送到成像光谱仪主控制器。在每行光谱仪CCD图像数据读出前,主控器提取该行的校正参数并传输到数据读出电路,计算每个像元DN值数据偏移量。读出电路将校正后的像元DN值按实际计算位置依次读出,获得线型修正后的光谱图像。经过校正重新读出的光谱图像消除了光谱弯曲现象,实现了光谱图像的实时修正,给地面后期数据处理带来了便利。

主权项:1.一种曲面成像光谱仪光谱弯曲实时校正读取方法,其特征在于:具体的实现步骤如下:步骤1、获得成像光谱仪的光谱弯曲校正系数;步骤2、成像光谱仪主控器将获得的光谱弯曲校正系数通过通讯接口传输到成像光谱仪读出装置中,用于根据不同的成像光谱仪光谱弯曲进行参数校正,成像光谱仪读出装置实时接收并存储光谱弯曲校正系数;步骤3、成像读出装置的FPGA根据面阵探测器的特点,按行或列依次读出面阵探测器的像元,并利用AD模数转换器读出像元的数字响应值,即DN值;步骤4、读出电路准备开始读出面阵探测器的第n行,读出电路将存储的第n行校正系数读出,并将该行校正系数分解为整数部分an和小数部分bn,数字响应值读出后将该行存储单元清零;步骤5、读出电路读出第n行第1列像元DN值,将第n行第1列像元DN值乘以1-bn,的值与原本存储于an+1列的值求和存储于an+1列,DN值乘以bn的值与原本存储于an+2列的值求和存储于an+2列;步骤6、读出电路读出第n行第2列像元DN值,将第n行第2列像元DN值乘以1-bn的值与原本存储于an+2列的值求和,结果存储于an+2列,DN值乘以bn的值与原本存储于an+3列的值求和存储于an+3列;步骤7、按步骤5、6的规律,直到第n行所有像元DN值全部读出完成;步骤8、n值加1,重复执行4、5、6、7,直到整个像面所有DN值全部读出完成;最终读出全部的二维光谱图像数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院合肥物质科学研究院 一种曲面成像光谱仪光谱弯曲实时校正读取方法和装置

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