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【发明公布】一种基于矩和噪声样本的Nakagami-m参数估计方法_西安电子科技大学_202311057596.4 

申请/专利权人:西安电子科技大学

申请日:2023-08-21

公开(公告)日:2023-12-08

公开(公告)号:CN117200919A

主分类号:H04B17/391

分类号:H04B17/391;H04L25/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.12.26#实质审查的生效;2023.12.08#公开

摘要:本发明公开了一种基于矩和噪声样本的Nakagami‑m参数估计方法,涉及通信技术领域,解决了现有技术中数据样本数量较大,且均为应用在高信噪比条件下,当信噪比降低时,性能不高的问题;该方法包括:设定第一信道系数服从第一衰落指数的Nakagami分布,且所述第一信道系数关于衰落幅度均方值为第一均方值;对所述第一信道系数叠加均值为0方差为的的高斯噪声,得到第二信道系数,其中,所述第二信道系数服从第二衰落指数的Nakagami分布,且所述第二信道系数关于衰落幅度均方值为第二均方值;确定所述第一衰落指数关于所述第二衰落指数和所述方差的关系,对所述第一衰落指数进行估计;实现了在低信噪比环境下,对信号的衰落有更好的估计。

主权项:1.一种基于矩和噪声样本的Nakagami-m参数估计方法,其特征在于,包括:设定第一信道系数服从第一衰落指数的Nakagami分布,且所述第一信道系数关于衰落幅度均方值为第一均方值;对所述第一信道系数叠加均值为0方差为的的高斯噪声,得到第二信道系数,其中,所述第二信道系数服从第二衰落指数的Nakagami分布,且所述第二信道系数关于衰落幅度均方值为第二均方值;确定所述第一衰落指数关于所述第二衰落指数和所述方差的关系,对所述第一衰落指数进行估计。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安电子科技大学 一种基于矩和噪声样本的Nakagami-m参数估计方法

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