申请/专利权人：中国电子科技集团公司第三十八研究所;华中科技大学

申请日：2023-09-27

公开（公告）日：2023-12-29

公开（公告）号：CN117311259A

主分类号：G05B19/19

分类号：G05B19/19

优先权：["20221013 CN 2022112531716"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.01.16#实质审查的生效;2023.12.29#公开

摘要：本发明提供基于点云分治的数控加工局部过欠切检查方法及系统，方法包括：获取加工模型边界的点云数据；将设计模型边界离散成三角面片；将加工模型与设计模型置于同一坐标系中的同一位置且方向相同；将加工模型所占据的空间以一定边长划分为单元立方；确定加工模型点云中的点分别落在哪个单元立方中；确定设计模型中的三角面可能与哪些单元立方中的点产生有效距离；计算每个单元立方中加工模型的点到设计模型的最短距离。本发明解决了过欠切检出困难、过欠切判断准确性低以及适用性低的技术问题。

主权项：1.基于点云分治的数控加工局部过欠切检查方法，其特征在于，所述方法包括：S1、获取加工模型边界的点云数据；S2、将设计模型边界离散成三角面片；S3、通过基准-关键点标记，将所述加工模型与所述设计模型置于同一坐标系中的同一位置，其中，在所述坐标系中，将所述加工模型与所述设计模型设置在一致方向；S4、根据预设边长，将所述加工模型所占据的空间划分为不少于两个的单元立方，其中，每个所述单元立方根据其坐标确定唯一编号；S5、找到存在所述加工模型的点云中的点落入的所述单元立方，以作为第一划分结果；S6、找到适于与所述设计模型中的三角面产生有效距离的所述单元立方中的点，以作为第二划分结果；S7、根据所述第一划分结果及所述第二划分结果，计算每个所述单元立方中，所述加工模型的点到所述设计模型的最短距离，其中，所述步骤S7还包括：S71、求所述加工模型中的一离散点P到所述设计模型的一所述三角面ΔA0A1A2的距离；S72、计算所述离散点P到所述三角面ΔA0A1A2所在平面的距离以及垂足Q，根据所述垂足Q与所述三角面ΔA0A1A2的相对位置确定所述离散点P到所述三角面ΔA0A1A2的距离。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第三十八研究所;华中科技大学 基于点云分治的数控加工局部过欠切检查方法及系统

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