申请/专利权人：成都工业学院

申请日：2023-03-15

公开（公告）日：2024-02-13

公开（公告）号：CN117554325A

主分类号：G01N21/359

分类号：G01N21/359;G01N21/47

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.13#公开

摘要：本发明涉及一种新型苹果糖度无损测量方法，所述测量方法包括：数据采集步骤：采集苹果部分近红外光漫反射图像，使用数字图像处理算法计算每个图像的灰度值，并采集记录每个苹果图像灰度值和对应苹果的糖度值；预测模型建立步骤：通过基于最小二乘的卷积拟合函数对灰度值和糖度值进行预处理，将预处理后的灰度值和糖度值通过偏最小二乘回归算法建立关系，计算出原始数据回归方程常数项和预测系数并建立预测模型；检测步骤：将新采集的苹果近红外光漫反射图像灰度值代入建立的预测模型中得到待测苹果的糖度值。本发明通过低成本的图像采集装置采集到的苹果信息进行建模，使得预测出来的糖度值更加的快速和准确。

主权项：1.一种新型苹果糖度无损测量方法，其特征在于：所述测量方法包括：数据采集步骤：采集苹果部分近红外光漫反射图像，使用数字图像处理算法计算每个图像的灰度值，并采集记录每个苹果图像灰度值和对应苹果的糖度值；预测模型建立步骤：通过基于最小二乘的卷积拟合函数对灰度值和糖度值进行预处理，将预处理后的灰度值和糖度值通过偏最小二乘回归算法建立关系，计算出原始数据回归方程常数项和预测系数并建立预测模型；检测步骤：将新采集的苹果近红外光漫反射图像灰度值代入建立的预测模型中得到待测苹果的糖度值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都工业学院 一种新型苹果糖度无损测量方法

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