申请/专利权人：上海精密计量测试研究所

申请日：2023-12-08

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117704918A

主分类号：G01B3/46

分类号：G01B3/46

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明提供了一种塞尺全自动检定装置及检定方法。该检定装置特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统1、翻转定位轴2、三轴运动平台机构3、上料架4和上位机，所述底板一侧为“凹”型，所述上料架4跨接架设于三轴运动平台机构3，用于放置塞尺，所述底板另一侧架设有翻转定位轴2，工作时，所述三轴运动平台机构3将指定塞尺移至高精度光栅测量系统1进行量值检定，所述翻转定位轴2带动所述高精度光栅测量系统1翻转，所述上位机用于记载和显示数据。本发明不但能完成塞尺中心厚度测量，还可以测量塞尺各点局部厚度和其弯曲度，满足实验室检定人员一键式自动测量，大大节约了检定时间。

主权项：1.一种塞尺全自动检定装置，其特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统1、翻转定位轴2、三轴运动平台机构3、上料架4和上位机，所述底板一侧为“凹”型，具有两个向上的支撑壁，三轴运动平台机构3固定安装于支撑壁顶部，所述上料架4跨接架设于三轴运动平台机构3，用于放置塞尺，所述底板另一侧固定有支架，支架上架设有翻转定位轴2，高精度光栅测量系统1固定于翻转定位轴2，工作时，所述三轴运动平台机构3承载装有塞尺的上料架4进行三维运动，将指定塞尺移至高精度光栅测量系统1进行量值检定，所述翻转定位轴2带动所述高精度光栅测量系统1翻转，所述上位机用于记载和显示数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海精密计量测试研究所 一种塞尺全自动检定装置及检定方法

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