申请/专利权人：国家能源集团科学技术研究院有限公司;清华大学

申请日：2023-10-31

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117723517A

主分类号：G01N21/64

分类号：G01N21/64;G01N21/01

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明提供一种处于微负压状态的恒流荧光测量系统及测量方法，属于气体测量技术领域。包括：第一气路转换机构，其进气口连接待测气体输送管道和惰性气源；干扰组分去除装置，其进气口连接第一气路转换机构的出气口；气体形态转换富集装置，其进气口连接第一气路转换机构的出气口；荧光测量装置，其进气口通过第二气路转换机构连接干扰组分去除装置和气体形态转换富集装置的出气口，用于对待测气体进行浓度测量；限流装置，其进气口连接第二气路转换机构和荧光测量装置的出气口，其出气口连接排气机构，与排气机构配合稳定荧光测量装置的进气流量，以及使荧光测量装置处于负压。本发明能使气体保持稳定，提高测量精度以及灵敏度，适用范围广。

主权项：1.一种处于微负压状态的恒流荧光测量系统，其特征在于，所述系统包括：第一气路转换机构（1），所述第一气路转换机构（1）的进气口连接待测气体输送管道（2）和惰性气源（3）；干扰组分去除装置（4），所述干扰组分去除装置（4）的进气口连接所述第一气路转换机构（1）的出气口，用于去除待测气体中的干扰组分；气体形态转换富集装置（5），所述干扰组分去除装置（4）的进气口连接所述第一气路转换机构（1）的出气口，用于对待测气体进行气体形态转换和气体的富集；荧光测量装置（6），所述荧光测量装置（6）的进气口通过第二气路转换机构（8）连接所述干扰组分去除装置（4）的出气口和所述气体形态转换富集装置（5）的出气口，用于对待测气体进行浓度测量；限流装置（7），所述限流装置（7）的进气口连接所述第二气路转换机构（8）的出气口和所述荧光测量装置（6）的出气口，所述限流装置（7）的出气口连接排气机构（9），所述限流装置（7）与所述排气机构（9）相互配合用于稳定荧光测量装置（6）的进气流量，以及使荧光测量装置（6）处于负压。

全文数据：

权利要求：

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