申请/专利权人：辉达公司

申请日：2023-01-29

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117726496A

主分类号：G06T1/20

分类号：G06T1/20;G06T15/06;G06T17/20

优先权：["20220916 US 17/946,201"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本公开涉及使用光线剪裁减少假阳性光线遍历。公开了适用于光线追踪硬件加速器的技术，用于遍历分层加速结构并具有减少的假阳性光线相交。假阳性的减少可以基于以下一项或更多项：有选择地对包围体进行二次高精度相交测试，识别和剔除退化为点的包围体，以及参数化地剪裁超过某些经配置的距离阈值的光线。

主权项：1.一种光线追踪加速硬件设备，包括：存储器，其被配置为存储加速结构AS的至少部分，所述加速结构包括至少一个几何体AS和至少一个实例AS；光线存储，其被配置为存储表示用于遍历所述AS的光线的数据，其中所述AS的所述至少部分和所述数据是从处理器接收的；光线管理电路，其被配置为基于与所述光线相对应的最小相交点和与所述AS中的节点相对应的包围体来调整所述光线的原点；相交检测电路，其被配置为执行光线-包围体相交测试，以基于所调整的原点检测所述光线是否与所述包围体相交；以及遍历电路，其被配置为根据所执行的光线-包围体相交测试的结果来遍历所述AS。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 辉达公司 使用光线剪裁减少假阳性光线遍历

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