申请/专利权人：辉达公司

申请日：2023-01-29

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117726743A

主分类号：G06T15/06

分类号：G06T15/06;G06T1/20

优先权：["20220916 US 17/946,193"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本公开涉及使用点退化剔除减少假阳性光线遍历。公开了适用于光线追踪硬件加速器的技术，用于遍历分层加速结构并具有减少的假阳性光线相交。假阳性的减少可以基于以下一项或更多项：有选择地对包围体进行二次高精度相交测试，识别和剔除退化为点的包围体，以及参数化地剪裁超过某些经配置的距离阈值的光线。

主权项：1.一种光线追踪加速硬件设备，包括：存储器，其被配置为存储加速数据结构AS的至少部分；光线存储，其被配置为存储表示用于遍历所述AS的光线的数据，其中所述AS的所述至少部分和所述数据是从处理器接收的；遍历电路，其被配置为根据所述光线遍历所述AS，所述遍历包括在所述AS的节点处：基于所述光线，确定与所述节点相对应的包围盒是否退化为点；当在所述AS的所述部分中设置了与所述节点相对应的点剔除指示符并且确定所述包围盒退化为点时，剔除所述节点；以及当在所述AS的所述部分中没有设置与所述节点相对应的所述点剔除指示符或者确定所述包围盒没有退化为点时，继续遍历所述节点；以及相交检测电路，其被配置为确定所述光线是否与所述节点的所述包围盒相交，其中继续所述遍历包括确定所述光线是否与所述包围盒相交。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 辉达公司 使用点退化剔除减少假阳性光线遍历

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