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申请/专利权人：同济大学
摘要：本发明涉及一种磁芯损耗测量系统，包括直流电源、充磁绕组、调频电容、开关、信号采集模块和磁芯损耗计算模块，所述直流电源并联在所述充磁绕组两端，所述开关位于所述直流电源与所述充磁绕组之间，所述充磁绕组绕制在被测磁性元件上，所述充磁绕组的线圈匝数小于被测磁性元件的线圈匝数，所述调频电容并联在被测磁性元件两端，所述信号采集模块用于对所述调频电容的电压和流经被测磁性元件的电流进行测量和采样，所述磁芯损耗计算模块根据所述信号采集模块的采样数据计算磁芯损耗密度，并绘制磁芯损耗密度曲线。与现有技术相比，本发明在高频条件下有效提高了磁芯损耗测量的精度。
主权项：1.一种磁芯损耗测量系统，其特征在于，包括直流电源1、开关2、充磁绕组4、调频电容5、信号采集模块6和磁芯损耗计算模块7，所述直流电源1并联在所述充磁绕组4两端，所述开关2位于所述直流电源1与所述充磁绕组4之间，所述充磁绕组4绕制在被测磁性元件3上，所述充磁绕组4的线圈匝数小于被测磁性元件3的线圈匝数，所述调频电容5并联在被测磁性元件3两端，所述信号采集模块6用于对所述调频电容5的电压和流经被测磁性元件3的电流进行测量和采样，所述磁芯损耗计算模块7根据所述信号采集模块6的采样数据计算磁芯损耗密度，并绘制磁芯损耗密度曲线。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同济大学 一种磁芯损耗测量系统、方法及介质
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