申请/专利权人：深圳先进技术研究院

申请日：2023-12-15

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117742654A

主分类号：G06F7/08

分类号：G06F7/08;G06F17/18;G06F17/16;G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本说明书涉及集成电路测试领域，尤其是模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备，所述方法包括根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；根据测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度；根据每个测试向量的冗余度计算该测试向量相对于所述排序向量集合的贡献度，根据贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集；根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述目标测试频点进行测试。本说明书最大化节省测试成本，优化测试流程。

主权项：1.一种模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法包括：根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；根据所述测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度；根据每个测试向量的冗余度计算各测试向量相对于所述排序向量集合的贡献度；根据所述贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集；根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述目标测试频点进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳先进技术研究院 模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备

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